[发明专利]存储单元的修复方法和装置在审

专利信息
申请号: 201310060639.4 申请日: 2013-02-26
公开(公告)号: CN104008780A 公开(公告)日: 2014-08-27
发明(设计)人: 潘劲东;魏芳伟;丁艳;张静;方伟 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: G11C29/44 分类号: G11C29/44
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 吴贵明;江舟
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种存储单元的修复方法和装置,其中该方法包括:接收访问命令,其中,上述访问命令携带有访问地址和访问操作;判断上述访问地址中的行地址和列地址是否分别与预先记录的已失效存储单元的行地址和列地址相同;若上述访问地址中的行地址和列地址分别与上述已失效存储单元的行地址和列地址相同,则根据上述访问地址查找到与上述已失效存储单元对应的冗余存储单元,并对查找到的上述冗余存储单元执行上述访问操作。通过上述方式有效解决了相关技术中在存储单元出现问题时采用整行或者整列替换而导致的资源浪费的技术问题,达到了提高资源利用率的技术效果。
搜索关键词: 存储 单元 修复 方法 装置
【主权项】:
一种存储单元的修复方法,其特征在于,包括:接收访问命令,其中,所述访问命令携带有访问地址和访问操作;判断所述访问地址中的行地址和列地址是否分别与预先记录的已失效存储单元的行地址和列地址相同;以及若所述访问地址中的行地址和列地址分别与所述已失效存储单元的行地址和列地址相同,则根据所述访问地址查找到与所述已失效存储单元对应的冗余存储单元,并对查找到的所述冗余存储单元执行所述访问操作。
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