[发明专利]细胞阻抗分析的芯片及仪器无效

专利信息
申请号: 201310061079.4 申请日: 2013-02-27
公开(公告)号: CN103630579A 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 赵湛;谭静;方震 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: G01N27/02 分类号: G01N27/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 曹玲柱
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种细胞阻抗分析的芯片及仪器。该芯片包括:绝缘基片,其中央位置定义为阻抗分析区域;微型金属电极阵列,形成于绝缘基片上,包括彼此绝缘的N个微型金属电极,该N个微型金属电极呈辐射状均匀分布在阻抗分析区域的圆周上,每一微型金属电极内侧的敏感部伸入阻抗分析区域内,其中N≥4;绝缘保护层,覆盖于除阻抗分析区域及微型金属电极上内侧敏感部和外侧引线部之外的其他区域;以及测量阱,形成于阻抗分析区域的四周绝缘保护层上,在该阻抗分析区域的上方形成容置待分析样品的容置区,该容置区的内半径等于或略大于阻抗分析区域半径。本发明提供的细胞阻抗分析的芯片及仪器可以对单细胞进行阻抗测量分析。
搜索关键词: 细胞 阻抗 分析 芯片 仪器
【主权项】:
一种细胞阻抗分析芯片,其特征在于,包括:绝缘基片,其中央位置定义为阻抗分析区域;微型金属电极阵列,形成于所述绝缘基片上,包括彼此绝缘的N个微型金属电极,该N个微型金属电极呈辐射状均匀分布在所述阻抗分析区域的圆周上,每一微型金属电极内侧的敏感部伸入所述阻抗分析区域内,其中N≥4;绝缘保护层,覆盖于除阻抗分析区域及所述微型金属电极上所述内侧敏感部和外侧引线部之外的其他区域;以及测量阱,形成于所述阻抗分析区域的四周绝缘保护层上,在该阻抗分析区域的上方形成容置待分析样品的容置区,该容置区的内半径等于或略大于所述阻抗分析区域半径。
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