[发明专利]一种探测修正存储器两位错误的低冗余加固方法及电路装置

摘要

本发明属于抗辐射集成电路设计领域的一种低冗余修正两位错误的存储器加固方法和电路装置，包括如下步骤：步骤1：构造线性码的低冗余修正两位错误的奇偶校验矩阵H；步骤2：生成各个奇偶校验矩阵H的列向量，确定；步骤3：计算校正子S：步骤4：通过校正子S确定传输数据的错误模式：步骤5：通过错误模式修正存储器出现的两位错误。

主权项

1.一种探测修正存储器两位错误的低冗余加固方法，其特征在于包括如下步骤：步骤1：构造线性码的低冗余修正两位错误的奇偶校验矩阵H：，式中，为奇偶校验矩阵H的列向量，为奇偶校验矩阵H的单位阵的列向量，根据码字的长度n和数据宽度k可以确定单位阵的列向量，因此只需要确定k个列向量即可构成奇偶校验矩阵H，奇偶校验矩阵H为阶矩阵，m为生成的校正子S的数据宽度位数；步骤2：生成各个奇偶校验矩阵H的列向量，确定；步骤3：计算校正子S：在译码过程中，当接收到信道输出端的码字r时，译码器进行如下运算：，式中，为信道输出端的码字，即接收向量，S为r的校正子，由接收向量r计算出的校正子仅由错误模式e决定，而与传输的码字无关，得到校正子和错误模式之间的关系：，式中，为数据存储过程中出现的错误模式；步骤4：通过校正子S确定传输数据的错误模式：第i和第j位发生错误对应的校正子与奇偶校验矩阵H的第i和第j列的异或结果是相同的，当校正子S=0时，传输的数据不发生错误；当校正子S≠0时，传输的数据中出现错误，根据相应的校正子S检测和修正这些错误；步骤5：通过错误模式修正存储器出现的两位错误：任意一位错误的校正子与任意相邻两位错误的校正子S(e₁), S(e₂),…, S(e_n-1)互不相同，一位错误和相邻两位错误可以通过错误模式e₁, e₂,…, e_n-1进行辨别并修正；任意不相邻两位错误的校正子与S(e₁), S(e₂),…,S(e_n-1)有部分重复，表明修正过程中存在一定的误码率，返回步骤2最小化任意不相邻两位错误的误码率。