[发明专利]用于FPGA芯片调试的信号采样缓存装置有效
申请号: | 201310069618.9 | 申请日: | 2013-03-05 |
公开(公告)号: | CN103116554A | 公开(公告)日: | 2013-05-22 |
发明(设计)人: | 张峻;齐星云;王桂彬;常俊胜;张建民;罗章;徐金波;董德尊;赖明澈;陆平静;王绍刚;徐炜遐;肖立权;庞征斌;王克非;夏军;童元满;陈虎 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科学技术大学 |
主分类号: | G06F12/08 | 分类号: | G06F12/08;G06F11/25 |
代理公司: | 湖南兆弘专利事务所 43008 | 代理人: | 赵洪;谭武艺 |
地址: | 410073 湖南省长沙市砚瓦池正*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于FPGA芯片调试的信号采样缓存装置,包括缓存控制器(1)、测试插座(2)、存储模块(3)、通信接口(4)和用于实现多个信号采样缓存装置之间级联连接的级联插座模块,缓存控制器(1)分别与测试插座(2)、存储模块(3)、通信接口(4)相连,级联插座模块包括分别用于在级联工作状态时连接上一级信号采样缓存装置或者下一级信号采样缓存装置的第一级联插座(5)和第二级联插座(6),第一级联插座(5)、第二级联插座(6)分别与缓存控制器(1)相连。本发明具有无需FPGA片内RAM资源、存储空间利用率高、信号采样时间跨度大、多信号采样能力强、使用方式灵活的优点。 | ||
搜索关键词: | 用于 fpga 芯片 调试 信号 采样 缓存 装置 | ||
【主权项】:
一种用于FPGA芯片调试的信号采样缓存装置,其特征在于:包括缓存控制器(1)、测试插座(2)、存储模块(3)、通信接口(4)和用于实现多个信号采样缓存装置之间级联连接的级联插座模块,所述缓存控制器(1)分别与测试插座(2)、存储模块(3)、通信接口(4)相连,所述级联插座模块包括分别用于在级联工作状态时连接上一级信号采样缓存装置或者下一级信号采样缓存装置的第一级联插座(5)和第二级联插座(6),所述第一级联插座(5)、第二级联插座(6)分别与缓存控制器(1)相连。
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