[发明专利]一种圆柱度误差的拼接干涉测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310073023.0 申请日: 2013-03-07
公开(公告)号: CN103175486A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 彭军政;于瀛洁;葛东宝;刘均琦;陈明仪 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 陆聪明
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种圆柱度误差的拼接干涉测量装置及方法,该装置包括装有测量数据处理软件的计算机(1),与计算机1连接的平面干涉仪(2),计算全息透镜(3),六维被测圆柱调整机构(5)和六维计算全息透镜调整机构(6),其特征在于:所述的装有测量数据处理系统的计算机(1)用于接收来自平面干涉仪(2)发来的测量数据,对数据分析比较后,通过测量数据处理软件对输入的被测圆柱(4)中各子孔径测量数据进行拼接处理,拼接获得被测圆柱(4)的圆柱度误差。采用上述测量装置进行测量,其采样数据密度高、采样速度快,能够提高圆柱度误差测量的速率和测量精度。
搜索关键词: 一种 圆柱 误差 拼接 干涉 测量 装置 方法
【主权项】:
一种圆柱度误差的拼接干涉测量装置,包括装有测量数据处理软件的计算机(1),与计算机(1)连接的平面干涉仪(2),计算全息透镜(3),六维被测圆柱调整机构(5)和六维计算全息透镜调整机构(6),其特征在于:所述的装有测量数据处理系统的计算机(1)用于接收来自平面干涉仪(2)发来的测量数据,对数据分析比较后,通过测量数据处理软件对输入的被测圆柱(4)中各子孔径测量数据进行拼接处理,拼接获得被测圆柱(4)的圆柱度误差;所述的平面干涉仪(2),用于测量被测圆柱(4)的各子孔径数据经计算机(1)拼接,获得被测圆柱(4)的圆柱度误差数据;所述的计算全息透镜(CGH)(3)位于平面干涉仪(2)前方,用于将平面干涉仪(2)出射的平面波转变成焦轴线为竖直向上的标准柱面波;所述的六维计算全息透镜调整机构(6)由三个直线运动轴和三个转动轴组成,即,由直线运动X轴、直线运动Y轴、直线运动Z轴、转动A轴、转动B轴、转动C轴组成,用于以调整计算全息透镜(CGH)(3)的位置和姿态,使平面干涉仪(2)发出的平面波经计算全息透镜(CGH)(3)后转变成焦轴线为竖直方向的标准柱面波;所述的六维被测圆柱调整机构(5)由三个直线运动轴和三个转动轴组成,即,由直线运动X轴、直线运动Y轴、直线运动Z轴、转动A轴、转动B轴、转动C轴组成,用于以调整被测圆柱(4)的位置和姿态,使得标准柱面波能大致沿着被测圆柱(4)上划分的第一个子孔径区域的面法线方向入射到其表面上,在平面干涉仪(2)上可观察到条纹。
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