[发明专利]读卡器引脚测试治具及方法在审
| 申请号： | 201310075515.3 | 申请日： | 2013-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN104034992A | 公开（公告）日： | 2014-09-10 |
| 发明（设计）人： | 杜巧燕;陈杰;龙雄军;饶武高 | 申请（专利权）人： | 达丰（上海）电脑有限公司;达功（上海）电脑有限公司;达人（上海）电脑有限公司;达利（上海）电脑有限公司;达群（上海）电脑有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人： | 雷绍宁 |
| 地址： | 201610 上海市松*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种读卡器引脚测试治具，它包括测试导体和用于测试读卡器引脚的测试系统，测试导体的形状与读卡器的插槽内部空间相适应；当测试导体插入读卡器后，测试导体与读卡器的全部引脚接触。本发明还提供一种使用上述的读卡器引脚测试治具的方法。该读卡器引脚测试治具及方法，可一次性完成对读卡器所有引脚的测试，使测试站能一次性模拟多合一读卡器对应的各种存储卡的测试，达到读卡器对各种存储卡的读写功能进行全面测试的测试要求，提高了测试效率，加快了生产速度。 | ||
| 搜索关键词： | 读卡器 引脚 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种读卡器引脚测试治具，其特征在于：它包括测试导体和用于测试读卡器引脚的测试系统，所述测试导体的形状与所述读卡器的插槽内部空间相适应；当所述测试导体插入所述读卡器后，所述测试导体与所述读卡器的全部引脚接触。
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