[发明专利]一种基于二维光子晶体的气体折射率检测器

摘要

本发明涉及了一种基于光子晶体的气体折射率探测器。该气体折射率探测器包括：介质柱，介质柱在二维空间上呈晶格形式排列形成光子晶体，光子晶体包含横、纵方向设置的线缺陷，两条线缺陷呈十字形波导结构的通道，并将光子晶体分成对称的复数个区块；光子晶体包含一对点缺陷组，点缺陷组相对设置在线缺陷所形成的通道上；光子晶体相对设置有输出端，光子晶体设置有输入端；输出端配置了光功率探测器，输入端配置了激光发射器；光子晶体含于气室，通过计算部计算输出端两端光功率的比值得到待测气体的折射率。该气体折射率探测器有检测范围大，体积小，可重复检测，反应速度快等特点，在快速检测领域有广阔的应用。

主权项

一种基于光子晶体的气体折射率探测器，其特征在于，具有： 介质柱，所述介质柱在二维空间上呈晶格形式排列形成光子晶体； 所述光子晶体包含横、纵方向设置的线缺陷，两条所述线缺陷呈十字形波导结构的通道，并将所述光子晶体分成对称的复数个区块； 所述光子晶体包含一对点缺陷组，所述点缺陷组相对设置在一条所述线缺陷所形成的通道上； 所述光子晶体相对设置有输出端，所述光子晶体设置有输入端； 所述输出端配置了光功率探测器，所述输入端配置了激光发射器； 装有所述光子晶体的气室；以及 外部连接计算部。