[发明专利]一种金属导体表面和亚表面缺陷分类识别方法

摘要

本发明属于无损检测技术领域，涉及一种金属导体表面和亚表面缺陷分类识别方法，该方法所采用的检测探头包括激励线圈、巨磁电阻传感器和永磁体，巨磁电阻传感器固定于激励线圈的底部，永磁体固定于激励线圈的外侧，方法为：将检测探头放置于被测试件表面，对激励线圈施加正弦信号，移动检测探头对被测试件进行扫描；对巨磁电阻传感器的输出信号进行滤波和放大处理；对经过滤波和放大处理的巨磁电阻传感器的输出信号进行解调，获得实部和虚部，得到幅值和相角信息；根据幅值和相角信息对扫描位置是否存在缺陷及缺陷类型进行判断。本发明可以直接快速对缺陷进行分类辨别，特征量明显，辨识准确。

主权项

一种金属导体表面和亚表面缺陷分类识别方法，该方法所采用的检测探头包括激励线圈、巨磁电阻传感器和永磁体，巨磁电阻传感器固定于激励线圈的底部，永磁体固定于激励线圈的外侧，包括下列步骤：（1）将检测探头放置于被测试件表面，对激励线圈施加正弦信号，移动检测探头对被测试件进行扫描，扫描过程中保持巨磁电阻敏感轴方向平行于探头扫描方向；（2）对巨磁电阻传感器的输出信号进行滤波和放大处理；（3）对经过滤波和放大处理的巨磁电阻传感器的输出信号进行解调，获得实部和虚部，并可进一步推算出幅值和相角信息；（4）根据幅值和相角信息对检测探头所扫描的区域是否存在缺陷及缺陷类型进行判断，若扫描过程中，输出信号的幅值和相角出现波峰或波谷，则判断所扫描的区域存在缺陷，若幅值和相角的波峰和波谷的出现顺序相同，则判断该缺陷为表面缺陷，若幅值和相角的波峰和波谷的出现顺序相反，则判断该缺陷为亚表面缺陷。