[发明专利]一种基于巨磁电阻传感器的金属导体缺陷识别及估计方法有效
申请号: | 201310081212.2 | 申请日: | 2013-03-14 |
公开(公告)号: | CN103163216A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 王超;高鹏;李藩为 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01N27/90 | 分类号: | G01N27/90 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 程毓英 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明属于无损检测技术领域,涉及一种基于巨磁电阻传感器的金属导体缺陷识别及估计方法,该方法所采用的检测探头包括激励线圈、巨磁电阻传感器和永磁体,巨磁电阻传感器固定于激励线圈的底部,永磁体固定于激励线圈的外侧,包括:将检测探头放置于被测试件表面,对激励线圈施加正弦信号,移动检测探头对被测试件进行扫描;对巨磁电阻传感器的输出信号进行解调,得到幅值和相角信息;记录检测探头扫描过程中的位置;分别绘制幅值随探头位置变化的曲线和相角随探头位置变化的曲线;对扫描位置是否存在缺陷进行判断;估计缺陷的位置及大小。本发明具有操作简单,响应速度快,实时性好,同时具有判断和估计准确,易于实施等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 磁电 传感器 金属 导体 缺陷 识别 估计 方法 | ||
【主权项】:
一种基于巨磁电阻传感器的金属导体缺陷识别及估计方法,该方法所采用的检测探头包括激励线圈、巨磁电阻传感器和永磁体,巨磁电阻传感器固定于激励线圈的底部,永磁体固定于激励线圈的外侧,包括下列步骤:(1)将检测探头放置于被测试件表面,对激励线圈施加正弦信号,移动检测探头对被测试件进行扫描,扫描过程中保持巨磁电阻敏感轴方向平行于探头扫描方向;(2)对巨磁电阻传感器的输出信号进行滤波和放大处理;(3)对经过滤波和放大处理的巨磁电阻传感器的输出信号进行解调,获得实部和虚部,并可进一步推算出幅值和相角信息;(4)记录检测探头扫描过程中的位置;(5)分别绘制幅值随探头位置变化的曲线和相角随探头位置变化的曲线;(6)根据幅值和相角信息对扫描位置是否存在缺陷进行判断,若输出信号的幅值和相角出现波峰或波谷,则判断所扫描的区域存在缺陷;(7)若存在缺陷,分别在两个曲线上对缺陷所在区域的幅值峰峰值和相角图形峰峰值的水平距离进行比较,取幅值图形峰峰值水平距离和相角图形峰峰值水平距离中两者的较小值,利用该较小值所对应的检测探头的扫描过程中的位置变化,对缺陷的位置和大小进行估计,缺陷的大小小于该位置变化。
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