[发明专利]电子器件量测治具及量测装置无效

专利信息
申请号: 201310081800.6 申请日: 2013-03-14
公开(公告)号: CN104049114A 公开(公告)日: 2014-09-17
发明(设计)人: 郭章纬 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R1/073
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种电子器件量测治具,用于对电子器件进行电性测量,该电子器件具有多个电连接端子,该量测治具包括器件固定座、探针固定座、多个第一探针及多个第二探针。该器件固定座具有收容待测量的电子器件的器件收容槽。该探针固定座固定于该器件固定座一侧。多个第一探针固定于该探针固定座,且一端用于与多个电连接端子电连接。该多个第二探针固定于探针固定座,第二探针包括相对的第一和第二电连接针部,多个第一电连接针部分别电连接于多个第一探针,该第二电连接针部用于与电性测量装置电连接。本发明还涉及一种采用上述治具的量测装置。
搜索关键词: 电子器件 量测治具 装置
【主权项】:
一种电子器件量测治具,用于对电子器件进行电性测量,该电子器件具有多个电连接端子,该量测治具包括:器件固定座,具有器件收容槽,用于收容待测量的电子器件;探针固定座,固定于该器件固定座一侧;多个第一探针,固定于该探针固定座,且该多个第一探针的一端用于与该电子器件的多个电连接端子分别电连接;及多个第二探针,固定于该探针固定座,每一第二探针包括相对的第一电连接针部和第二电连接针部,该多个第二探针的第一电连接针部分别电连接于该多个第一探针,该第二电连接针部从该探针固定座露出,用于与电性测量装置电连接。
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