[发明专利]一种基于转向核估计的红外条纹非均匀性校正方法有效
申请号: | 201310083153.2 | 申请日: | 2013-03-15 |
公开(公告)号: | CN103164846A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 赵明;安博文;吴泳澎;孙胜利;林长青 | 申请(专利权)人: | 上海海事大学 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00 |
代理公司: | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人: | 徐茂泰 |
地址: | 201306 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于转向核估计的红外条纹非均匀性校正方法,针对红外列向条纹非均匀性,利用转向核邻域来表征像素点所在区域的边缘程度,将转向核估计的结果作为期望图像,将期望图像列向量和当前图像列向量之间采用最小二乘拟合,通过迭代求解各列的非均匀性校正参数,实现红外图像列向条纹非均匀性校正,去除条纹非均匀性的同时能够保留图像边缘。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 转向 估计 红外 条纹 均匀 校正 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于转向核估计的红外条纹非均匀性校正方法,其特征在于,包含以下步骤:步骤1,读取一幅待校正的尺寸为
的红外图像;计算每个像素点
水平方向和垂直方向的一阶梯度
、
和二阶梯度;根据一阶梯度确定各像素点的转向核椭圆邻域和转向核权值;由转向核权值估计各像素点的期望值
;其中
是迭代次数,初始值为1,
,
;步骤2,拟合非均匀性校正参数,将每列像素的当前估计结果与待校正图像的对应列像素进行一阶线性拟合,得到每列的增益校正参数
和偏置校正参数
;步骤3,根据每列的增益校正参数
和偏置校正参数
校正图像,并计算校正后的图像与转向核估计图像之间的误差函数
,当误差函数
时,迭代结束,
为预先设定的阈值;否则重复步骤1,并更新迭代次数
。
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