[发明专利]一种频率器件老化率测试装置及测试方法无效

专利信息
申请号: 201310084060.1 申请日: 2013-03-15
公开(公告)号: CN103217600A 公开(公告)日: 2013-07-24
发明(设计)人: 李丕宁;方忠有;朱辉;李浩;孙仲秋 申请(专利权)人: 深圳市三奇科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 深圳市精英专利事务所 44242 代理人: 李新林
地址: 518000 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种频率器件老化率测试装置,其包括有计算机、频率计、铷原子频率源及多层测试架,每层测试架上设有器件测试板及测试控制板,所述器件测试板包括有多个器件座,所述测试控制板各自具有唯一的地址码,其中,每个测试控制板包括有一4514译码器及多个选通开关,所述计算机发送选位指令至4514译码器的选位端,4514译码器的多个输出端分别连接于多个选通开关的控制端,多个器件座的输出端分别连接于多个选通开关的输入端,多个选通开关的输出端相互连接后再连接至频率计的输入端,频率计将测试结果以电信号的形式发送至计算机,并由计算机计算出每个频率器件的老化率K。本发明具有生产效率高和数据准确性好的优势。
搜索关键词: 一种 频率 器件 老化 测试 装置 方法
【主权项】:
一种频率器件老化率测试装置,其特征在于,所述测试装置包括有一计算机(10)、一频率计(20)、一铷原子频率源(30)及多层测试架,每层测试架上设有一器件测试板(40)及一测试控制板(50),所述器件测试板(40)包括有多个器件座(400),所述测试控制板(50)各自具有唯一的地址码,其中,所述铷原子频率源(30)发送标准频率的振荡信号至频率计(20)的标准频率信号端口,频率计(20)以该振荡信号的频率作为参考频率;每个测试控制板(50)包括有一4514译码器(500)及多个选通开关(501),所述计算机(10)发送选位指令至4514译码器(500)的选位端,4514译码器(500)的多个输出端分别连接于多个选通开关(501)的控制端,多个器件座(400)的输出端分别连接于多个选通开关(501)的输入端,多个选通开关(501)的输出端相互连接后再连接至频率计(20)的输入端,频率计(20)将测试结果以电信号的形式发送至计算机(10)。
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