[发明专利]一种高光谱图像半监督分类方法及装置有效
| 申请号： | 201310085370.5 | 申请日： | 2013-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN103150580A | 公开（公告）日： | 2013-06-12 |
| 发明（设计）人： | 邵振峰;张磊 | 申请（专利权）人： | 武汉大学 |
| 主分类号： | G06K9/66 | 分类号： | G06K9/66 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 张火春 |
| 地址： | 430072 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及遥感高光谱图像的分类方法及装置，所述的方法，包括以下步骤：步骤1：对高光谱图像进行光谱角加权的基于核函数模糊C均值聚类得到聚类指示特征；步骤2：对高光谱图像进行支持向量机（SVM）半监督分类得到第一分类图像Image1，对聚类指示特征进行支持向量机（SVM）半监督分类得到第二分类图像Image2；步骤3：构建聚类和SVM协同框架，将Image1和Image2分类结果嵌入聚类和SVM协同框架进行协同分析得到最终高光谱分类图像。所述的装置，包括聚类模块、分类模块、协同分析模块；本高光谱图像半监督分类方法及装置是一种可行的、高精度的聚类和SVM协同的高光谱图像半监督分类方法及装置。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光谱 图像 监督 分类 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种高光谱图像半监督分类方法，包括以下步骤： 步骤1：对高光谱图像进行光谱角加权的基于核函数模糊C均值聚类得到聚类指示特征； 步骤2：对高光谱图像进行支持向量机（SVM）半监督分类得到第一分类图像Image1，对聚类指示特征进行支持向量机（SVM）半监督分类得到第二分类图像Image2； 步骤3：构建聚类和SVM协同框架，将Image1和Image2分类结果嵌入聚类和SVM协同框架进行协同分析得到最终高光谱分类图像。
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