[发明专利]一种超短脉冲激光烧蚀氮化硅的模拟计算方法有效
申请号: | 201310086318.1 | 申请日: | 2013-03-18 |
公开(公告)号: | CN103268064A | 公开(公告)日: | 2013-08-28 |
发明(设计)人: | 吴东江;姚龙元;马广义;牛方勇;郭东明 | 申请(专利权)人: | 大连理工大学 |
主分类号: | G05B13/00 | 分类号: | G05B13/00 |
代理公司: | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人: | 关慧贞;梅洪玉 |
地址: | 116024*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明公布了一种超短脉冲激光烧蚀氮化硅的模拟计算方法,利用Matlab对加工参数进行模拟计算分析,主要步骤包括:建立超短脉冲激光烧蚀氮化硅的烧蚀模型,对计算参数进行初始化;定义等离子体密度边界条件,并通过模型计算在不同模拟参数下的烧蚀阈值、深度和体积;基于计算结果和残留高度模型,对激光烧蚀残留高度进行分析评价,并给出指导参数。本发明可以避免通过反复实验获得加工参数的过程,利用模拟结果可对加工参数进行优化,从而可缩短产品周期,降低加工成本,提高生产效率,因此对超短脉冲激光烧蚀氮化硅的实际加工过程具有重要指导价值。 | ||
搜索关键词: | 一种 超短 脉冲 激光 氮化 模拟 计算方法 | ||
【主权项】:
一种超短脉冲激光烧蚀氮化硅的模拟计算方法,其特征在于该方法包括以下步骤:A、建立超短脉冲激光烧蚀氮化硅的烧蚀模型,并对模型常量进行参数初始化,同时定义所建模型中氮化硅发生烧蚀时的等离子体密度边界条件ρcr为1.6×1021cm‑3;B、确定激光波长,设定脉宽计算范围为10fs~10ps,对氮化硅烧蚀阈值进行计算;当导带电子密度超过临界等离子体密度,即ρc(x,t)>ρcr时,氮化硅产生损伤,当ρc(x,t)≤ρcr时,须对初始变量进行重新赋值计算;C、设定激光能量密度取值域为1J/cm2~8J/cm2,基于阈值结果对烧蚀深度进行模拟;在单脉冲烧蚀形貌为圆锥形状的体积建模假设条件下,建立烧蚀体积模型,并定义激光束腰半径,进而利用烧蚀深度模拟结果得到相应条件下的烧蚀体积;所述的体积模型为 V = x · πω 0 2 6 ln ( F F th ) 式中:V为烧蚀体积,x为烧蚀深度,ω0为束腰半径,Fth为烧蚀阈值,F为能量密度;D、建立扫描速度v、线重叠率δ与残留高度Δx的关系模型,定义烧蚀残留高度边界条件,并将阈值和深度模型计算结果加载到残留高度模型中;所述的扫描速度v与残留高度Δx的关系模型为 v = ΔL ( f - 1 ) ξD ( f - 1 ) = Δx x × 100 % · D ( f - 1 ) 式中:ΔL为在扫描速度方向上的两脉冲间距,ξ为相对残留高度,D为烧蚀直径,f为脉冲频率,x为烧蚀深度;Δx为残留高度,是指烧蚀轮廓峰顶线和轮廓谷底线之间的距离;所述的线重叠率δ与残留高度Δx的关系模型为 δ = ( d - Δd ) d × 100 % = ( 1 - ξ ) × 100 % 式中:Δd为烧蚀线间距,Δd=ξd;d为烧蚀线宽度,d=D;E、对脉冲频率进行赋值,并在能量密度为4.0J/cm2~8.0J/cm2,扫描速度为0~3mm/s条件下对残留高度进行计算;若Δx>Δxmax,不满足要求,重新输入变量计算;若Δx≤Δxmax,满足加工精度,输出指导参数,完成模拟计算。
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