[发明专利]一种高速编码器测试装置

摘要

本发明涉及一种高速编码器测试装置，主要用以测试高速下编码器的编码性能。它包括步进电机、基座、联轴器、滚珠丝杠、丝杠螺母、移动滑块、静盘、动盘、高速电主轴、光电速度传感器、支架、激光位移传感器和反光片。本发明通过调节动、静盘之间的气隙来测试编码器在不同转速下的编码性能，通过电脑控制步进电机转动和高速电主轴运转，采集位移和速度传感器以及编码器静盘的输出信号，实现集成化测试。故本装置测试精度高，测试效果好，并且结构紧凑，操作简便。

主权项

一种高速编码器测试装置，其特征在于：包括步进电机（1）、基座（2）、联轴器（3）、滚珠丝杠（4）、丝杠螺母（5）、移动滑块（6）、静盘（7）、动盘（8）、高速电主轴（9）、光电速度传感器（12）、支架（13）、激光位移传感器（14）和反光片（15）；所述步进电机（1）固定在基座（2）上，并通过联轴器（3）与滚珠丝杠（4）相连；所述丝杠螺母（5）与移动滑块（6）通过螺钉联接；所述静盘（7）安装在移动滑块（6）上，所述高速电主轴（9）安装在基座（2）上，所述动盘（8）通过螺钉、螺母与高速电主轴的转轴配合；冷却水通过进水接嘴（10）和出水接嘴（11）对高速电主轴（9）进行循环冷却；所述反光片（15）贴在移动滑块（6）固定位置，所述激光位移传感器（14）和光电速度传感器（12）固定在支架（13）上，支架（13）安装在基座（2）上。