[发明专利]一种用于DRAM修复测试的数据压缩输出方法无效
| 申请号： | 201310088814.0 | 申请日： | 2013-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN103187101A | 公开（公告）日： | 2013-07-03 |
| 发明（设计）人： | 亚历山大;王春娟 | 申请（专利权）人： | 西安华芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 陈广民 |
| 地址： | 710055 陕西省西安*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于DRAM修复测试的数据压缩输出方法，包括以下步骤：1）读取32位cell单元的数值；2）通过芯片内部的算法判断cell单元是否存在fail；3）芯片内部对32位cell单元的结果值进行“与”的运算；4）输出32位cell单元的唯一最终结果值；5)测试机台得到32位cell单元的结果后，如果结果为“0”，则说明存在坏掉的位线CSL，运行处理程序使冗余的CSL代替坏掉的位线CSL；如果结果为“1”，则说明没有坏掉的位线CSL。本发明提供了一种降低测试时间、降低测试成本的DRAM修复测试的数据压缩输出方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 dram 修复 测试 数据压缩 输出 方法 | ||
【主权项】：
一种用于DRAM修复所需的数据压缩输出方法，该发明步骤如下：1）读取32位cell单元的数值；2）通过芯片内部的算法判断cell单元是否存在fail，如果cell单元没有fail，则结果值为“1”，如果芯片单元有fail，则结果值为“0”；3）芯片内部对32位cell单元的结果值进行“与”的运算：最终结果=(单元1结果)“与”(单元2结果)“与”(单元3结果)“与”…“与”(单元31结果)“与”(单元32结果)；4）输出32位cell单元的唯一最终结果值；5)测试机台得到32位cell单元的结果后，如果结果为“0”，则说明存在坏掉的位线CSL，运行处理程序使冗余的CSL代替坏掉的位线CSL；如果结果为“1”，则说明没有坏掉的位线CSL。
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