[发明专利]闪存存储器的验证装置有效
申请号: | 201310089068.7 | 申请日: | 2013-03-20 |
公开(公告)号: | CN104064222B | 公开(公告)日: | 2017-03-01 |
发明(设计)人: | 陈敏修 | 申请(专利权)人: | 华邦电子股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司72003 | 代理人: | 赵根喜,吕俊清 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种闪存存储器的验证装置,包括测试控制器以及放电电路。测试控制器提供电源电压,并且用以验证闪存存储器的擦除操作。放电电路耦接测试控制器与闪存存储器。放电电路受控于测试控制器而决定是否致能,并且于致能时提供放电路径。其中,测试控制器发出擦除指令以使闪存存储器进行擦除操作,并且在闪存存储器进行擦除操作的擦除期间内停止提供电源电压并且致能放电电路,使得闪存存储器经由放电路径进行放电,藉以检查闪存存储器是否发生过度擦除。 | ||
搜索关键词: | 闪存 存储器 验证 装置 | ||
【主权项】:
一种闪存存储器的验证装置,其特征在于,包括:一测试控制器,提供一电源电压,并且用以验证该闪存存储器的擦除操作;以及一放电电路,耦接该测试控制器与该闪存存储器,受控于该测试控制器而决定是否致能,并且于致能时提供一放电路径,其中该测试控制器发出一擦除指令以使该闪存存储器进行擦除操作,并且在该闪存存储器进行擦除操作的一擦除期间内停止提供该电源电压并且致能该放电电路,使得该闪存存储器经由该放电路径而快速断电,藉以检查该闪存存储器是否发生过度擦除。
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