[发明专利]叶片中叶绿素无损测定方法有效

专利信息
申请号: 201310091596.6 申请日: 2013-03-21
公开(公告)号: CN103163094A 公开(公告)日: 2013-06-19
发明(设计)人: 段铁城;胡建东;胡小宁;杨张青;苏伟波;叶优良;王万章;朱秀红;刘存祥;管泽民 申请(专利权)人: 河南农大迅捷测试技术有限公司
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 450002*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明涉及一种叶片中叶绿素无损测定方法。其方法是用两种(或三种)特定波长的光线照射在叶片和反射板上按照它们反射率计算出叶绿素含量的一种相对指数(或实际含量),该指数(或实际含量)与叶绿素总含量(或叶绿素a、叶绿素b含量及总量)存在显著的相关关系(或定量函数关系),进而根据这种相关性估测计算或还原出片中叶绿素的含量(或计算出叶绿素a、叶绿素b及总叶绿素量)。本发明方法不受叶片厚度的限制,而现有的透射式比色测定法在叶片厚度大时,吸光度A>1.0时,误差急速扩大;本发明所采用的漫反射式测定方法则因漫反射发生在叶片内部的任一层面,受叶片厚度的影响轻微;本发明方法对叶绿素的检测成本极低,几乎没有耗材,也无需换算模型的技术准备过程。
搜索关键词: 叶片 叶绿素 无损 测定 方法
【主权项】:
一种叶片中叶绿素无损测定方法,包括以下步骤:①选定检测光波长:以叶绿素a吸收光谱曲线和叶绿素b吸收光谱曲线相交汇区域的波长为工作波长,以叶绿素a和叶绿素b都没有吸收的近红外光谱区为参照波长;②求叶绿素反射率:分别以工作波长、参照波长的单色光依次照射在待测叶片和参照反射板上,使其产生漫反射,以光电反射仪检测记录两种波长下的漫反射率R工、R参1,以下式求得叶绿素反射率:R=R工‑r1×R参1,上式中R为待测叶片中叶绿素反射率;R参1为参照波长照射下的待测叶片基质的漫反射率;R工为工作波长照射下的叶片的漫反射率;r1为系数,取值0.9~1.8;③计算叶绿素反射函数:将上步所得叶绿素反射率R代入下述库比尔卡‑芒克公式计算出待测叶片中所含叶绿素的反射函数FKM:FKM=(1‑R)2/2R;④计算叶绿素总含量:由下式将所述反射函数换算为待测叶片中的叶绿素总含量:C=B×FKM,上式中C为叶绿素总含量;B为标定的换算系数,其标定方法为测定任一个已知叶绿素含量的叶片的反射函数,求得叶绿素含量与反射函数的比值。
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