[发明专利]开关电源中光电耦合器退化监测方法和装置有效
申请号: | 201310092265.4 | 申请日: | 2013-03-21 |
公开(公告)号: | CN103197260A | 公开(公告)日: | 2013-07-10 |
发明(设计)人: | 李梦奇;史峥宇;陆裕东;冯敬东;孔学东;王晓晗;恩云飞;黄云 | 申请(专利权)人: | 工业和信息化部电子第五研究所 |
主分类号: | G01R31/40 | 分类号: | G01R31/40 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 王茹;曾旻辉 |
地址: | 510610 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种开关电源中光电耦合器退化监测方法,包括如下步骤:对开关电源输出端负载施加电流脉冲信号,获取所述开关电源的响应信号;将所述响应信号放大后整形为方波脉冲序列;读取所述方波脉冲序列中的方波脉冲个数,通过所述方波脉冲个数判断光电耦合器是否退化。对应地本发明还提供一种开关电源中光电耦合器退化监测装置。本发明无需对电源内部结构进行拆卸,且能在开关电源正常工作时实现对光电耦合器的实时在线监控。 | ||
搜索关键词: | 开关电源 光电 耦合器 退化 监测 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种开关电源中光电耦合器退化监测方法,其特征在于,包括如下步骤:对开关电源输出端负载施加电流脉冲信号,获取所述开关电源的响应信号;将所述响应信号放大后整形为方波脉冲序列;读取所述方波脉冲序列中的方波脉冲个数,通过所述方波脉冲个数判断光电耦合器是否退化。
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