[发明专利]溅射靶材及导电金属氧化物薄膜有效

专利信息
申请号: 201310092782.1 申请日: 2013-03-21
公开(公告)号: CN103849842B 公开(公告)日: 2018-04-27
发明(设计)人: 卢明昌;尹新淳;张智咏;曾浤豪 申请(专利权)人: 光洋应用材料科技股份有限公司
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;C23C14/08
代理公司: 上海一平知识产权代理有限公司31266 代理人: 须一平
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种溅射靶材,包含铟、第一金属、第二金属,及氧,基于铟、第一金属及第二金属的原子总含量以100at.%计,铟的原子含量范围为10至20at.%,第一金属的原子含量范围为60至80at.%,第二金属的原子含量范围为10至20at.%,其中,第一金属选自锌、锡,及前述的组合,第二金属选自铝、钛,及前述的组合。本发明还提供利用该溅射靶材经溅射所形成的导电金属氧化物薄膜,该导电金属氧化物薄膜的电阻率高,进而维持该导电金属氧化物薄膜的预定厚度不被缩减且不易破损,有效提高该导电金属氧化物薄膜应用于光电元件的成品率。
搜索关键词: 溅射 导电 金属 氧化物 薄膜
【主权项】:
一种溅射靶材,其特征在于,包含:铟、一第一金属、一第二金属,及氧,基于铟、该第一金属及该第二金属的原子总含量以100at.%计,铟的原子含量范围为10至20at.%,该第一金属的原子含量范围为60至80at.%,该第二金属的原子含量范围为10至20at.%,其中,该第一金属为锌及锡的组合,该第二金属为铝。
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