[发明专利]一种在GaP表面制备锥状结构的方法有效

专利信息
申请号: 201310093588.5 申请日: 2013-03-22
公开(公告)号: CN103199161A 公开(公告)日: 2013-07-10
发明(设计)人: 杨海方;刘哲;顾长志;尹红星;夏晓翔 申请(专利权)人: 中国科学院物理研究所
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/22
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 梁爱荣
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种在GaP表面制备锥状结构的方法,在GaP样品表面上旋涂光刻胶,利用微、纳米尺度图形制备技术在光刻胶上制备孔状光刻胶阵列图形,得到含有孔状光刻胶阵列图形的样品;利用金属镀膜设备,在含有孔状光刻胶阵列图形的样品上生长一层金属层并溶脱,得到含有金属柱状图形阵列的样品;利用干法刻蚀设备对含有金属柱状图形阵列的GaP样品进行刻蚀,得到具有锥状阵列结构的GaP样品;将具有锥状阵列结构的GaP样品置于金属腐蚀液中清洗,去除表面残留的金属层,在GaP表面得到锥状阵列结构。该锥状阵列结构可用于AlGaInP基红光LED光提取效率的增强。
搜索关键词: 一种 gap 表面 制备 结构 方法
【主权项】:
一种在GaP表面制备锥状结构的方法,其特征在于,所述GaP锥状结构的制备步骤如下:步骤S1:在样品表面上涂覆光刻胶,利用微、纳图形制备技术在光刻胶上制备孔状光刻胶阵列图形,得到具有光刻胶图形的样品;步骤S2:将具有光刻胶图形的样品放入金属镀膜设备中,生长金属层做为刻蚀掩模,得到具有金属层的样品;步骤S3:将具有金属层的样品,放入去胶溶液中进行溶脱处理,得到含有金属柱状阵列的样品;步骤S4:利用干法刻蚀设备对含有金属柱状阵列的样品进行刻蚀,控制刻蚀参数,在GaP表面得到具有锥状结构的样品;步骤S5:将具有锥状结构的样品放入金属腐蚀液中去除残留的金属层,从而在GaP表面得到锥状结构。
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