[发明专利]一种提高自适应光学系统传递矩阵测量精度的方法有效

专利信息
申请号: 201310095509.4 申请日: 2013-03-22
公开(公告)号: CN103217223A 公开(公告)日: 2013-07-24
发明(设计)人: 郭友明;饶长辉;鲍华;张昂;魏凯 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01J9/00 分类号: G01J9/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 成金玉;贾玉忠
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及一种提高自适应光学系统传递矩阵测量精度的方法,其特点是:在测量自适应光学系统传递矩阵过程中,向变形镜驱动器施加的电压包含信号电压与补偿电压两部分;其中,补偿电压用来对自适应光学系统的静态像差进行预校正。本发明有效地解决了自适应光学系统传递矩阵测量受到静态像差制约的状况,进一步提高了传递矩阵的测量精度。
搜索关键词: 一种 提高 自适应 光学系统 传递 矩阵 测量 精度 方法
【主权项】:
一种提高自适应光学系统传递矩阵测量精度的方法,其特征在于:在传递矩阵的测量过程中,向变形镜驱动器施加的电压包含信号电压与补偿电压两部分,具体步骤如下:步骤(1):测量自适应光学系统的变形镜与哈特曼波前探测器的对准误差;步骤(2):根据步骤(1)得到的对准误差及自适应光学系统的设计参数得到传递矩阵和复原矩阵的计算结果;步骤(3):利用复原矩阵的计算结果使自适应光学系统闭环工作校正自适应光学系统的静态像差,并记录闭环稳定后变形镜各驱动器的电压作为补偿电压;步骤(4):向变形镜驱动器施加由信号电压与补偿电压组成的测量电压,并记录相应的波前斜率;步骤(5):根据测量电压与波前斜率得到传递矩阵的测量结果。
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