[发明专利]一种探测光缆衰减参数的自动校准方法及装置无效

专利信息
申请号: 201310100138.4 申请日: 2013-03-27
公开(公告)号: CN103217232A 公开(公告)日: 2013-07-24
发明(设计)人: 段绍辉;田杰;姚森敬;周正仙;仝芳轩;沈春光 申请(专利权)人: 深圳供电局有限公司;上海华魏光纤传感技术有限公司
主分类号: G01K15/00 分类号: G01K15/00
代理公司: 深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙) 44238 代理人: 潘中毅;熊贤卿
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种探测光缆衰减参数的自动校准装置,探测光缆尾端的光通过自动校准装置反射进入探测光缆,反射进入探测光缆中的光产生的后向散射光再次通过自动校准装置由探测光缆进入分布式光纤温度传感系统进行数据处理,最终得到探测光缆的两次数据信息,用以校准探测光缆的衰减参数。本发明还公开了一种探测光缆衰减参数的自动校准方法。实施本发明的探测光缆衰减参数的自动校准方法及装置,能够准确获得探测光缆的衰减参数,实现在现场对探测光缆进行校准、补偿;增加了分布式光纤温度传感系统的有效使用程度,提高了分布式光纤温度传感系统的性能。
搜索关键词: 一种 探测 光缆 衰减 参数 自动 校准 方法 装置
【主权项】:
一种探测光缆衰减参数的自动校准装置,其特征在于,包括:分布式光纤温度传感系统;连接在所述分布式光纤温度传感系统上的探测光缆;连接在所述探测光缆尾端的光纤连接器;以及连接在所述光纤连接器上的自动校准装置,其中:所述探测光缆尾端的光通过所述自动校准装置反射进入所述探测光缆,反射进入所述探测光缆中的光产生的后向散射光再次通过所述自动校准装置由所述探测光缆进入所述分布式光纤温度传感系统进行数据处理,最终得到所述探测光缆的两次数据信息,用以校准探测光缆的衰减参数。
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