[发明专利]芯片内部模拟信号测试条件的判定方法在审
| 申请号： | 201310103175.0 | 申请日： | 2013-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN103217640A | 公开（公告）日： | 2013-07-24 |
| 发明（设计）人： | 桂伟;钱亮;奚凯华 | 申请（专利权）人： | 上海宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/30 | 分类号： | G01R31/30 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 郑玮 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片内部模拟信号测试条件的判定方法，其中，通过提供多个不同的驱动电压，从而获取多个输出信号，根据该多个输出信号之间的差值与参考值的比较结果，从而判定当前测试条件可靠与否。在此，利用了当测试条件可靠时，所得出的测试结论也将可靠，而可靠的测试结论将指向一个稳定的测试结果这一原理，从而能够判断出当前测试条件可靠与否，进而保证了对芯片内部模拟信号测试的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 内部 模拟 信号 测试 条件 判定 方法 | ||
【主权项】：
一种芯片内部模拟信号测试条件的判定方法，其特征在于，包括：提供多个不同的驱动电压；在多个不同的驱动电压下，获取多个输出信号；当该多个输出信号之间的差值小于一参考值时，判定当前测试条件可靠。
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