[发明专利]被检物分析装置、精度管理用样品容器和精度管理方法有效
| 申请号： | 201310105986.4 | 申请日： | 2013-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN103364572A | 公开（公告）日： | 2013-10-23 |
| 发明（设计）人： | 藤田教蔵 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;G06K17/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 高科 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种被检物分析装置，可以减少用户的麻烦，且在被检物分析装置之间比较精度管理用样品的分析结果。该被检物分析装置包括：被检物分析部，分析被检物；读写部，从附着于收存了精度管理用样品的容器的存储介质读出信息；显示部；以及控制部，在由其它被检物分析装置分析得到的分析结果被存储于上述存储介质时，使上述显示部显示通过由其它被检物分析装置分析上述精度管理用样品而得到并由上述读写部从上述存储介质读出的分析结果、和上述精度管理用样品的由上述被检物分析部得到的分析结果。由此，可以容易地掌握与其它被检物分析装置的精度管理用样品的分析结果的偏差。 | ||
| 搜索关键词： | 被检物 分析 装置 精度 管理 样品 容器 方法 | ||
【主权项】：
一种被检物分析装置，其特征在于，包括：被检物分析部，分析被检物；读出部，从附着于收存了精度管理用样品的容器的存储介质读出信息；显示部；以及控制部，在由其它被检物分析装置分析得到的分析结果被存储于上述存储介质时，使上述显示部显示通过由其它被检物分析装置分析上述精度管理用样品而得到并由上述读出部从上述存储介质读出的分析结果、和上述精度管理用样品的由上述被检物分析部得到的分析结果。
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