[发明专利]一种在Android中植入动态污点分析模块的方法有效
申请号: | 201310112042.X | 申请日: | 2013-04-02 |
公开(公告)号: | CN103177210A | 公开(公告)日: | 2013-06-26 |
发明(设计)人: | 梁彬;游伟;王鹏;石文昌 | 申请(专利权)人: | 中国人民大学 |
主分类号: | G06F21/50 | 分类号: | G06F21/50 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 徐宁;关畅 |
地址: | 100872 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种在Android中植入动态污点分析模块的方法,该方法对Android系统的系统类库和应用程序进行静态插桩,在插桩后的应用程序装载过程中,通过重定向虚拟机启动函数的方法重构执行环境,使插桩后的应用程序能够引用插桩后的系统类库,在插桩后的应用程序运行过程中,动态污点分析模块同步运行,实施动态污点跟踪分析。本发明无需修改Android系统源代码和系统架构、无需刷机及ROOT目标终端设备,便可以在Android系统平台上植入具有污点跟踪功能的动态污点分析模块,对敏感信息操作进行监控分析。 | ||
搜索关键词: | 一种 android 植入 动态 污点 分析 模块 方法 | ||
【主权项】:
一种在Android中植入动态污点分析模块的方法,包括以下步骤:1)对系统类库进行静态插桩,将动态污点分析模块直接插入系统类库文件中,生成插桩后的系统类库;2)对应用程序进行静态插桩,将动态污点分析模块直接插入应用程序文件中,生成插桩后的应用程序;3)在插桩后的应用程序装载过程中,通过重定向虚拟机启动函数的方法重构执行环境,使插桩后的应用程序能够引用插桩后的系统类库;4)在插桩后的应用程序运行过程中,动态污点分析模块同步运行,实施动态污点跟踪分析,例如跟踪是否有敏感数据从预设的污点源传播至预设的安全敏感操作点。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民大学,未经中国人民大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310112042.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于内燃机的油泵的润滑剂阀
- 下一篇:硅磁纳米高效节能电锅炉