[发明专利]一种显微角分辨光谱测量装置有效

专利信息
申请号: 201310114735.2 申请日: 2013-04-03
公开(公告)号: CN103234633A 公开(公告)日: 2013-08-07
发明(设计)人: 许春;殷海玮;章炜毅 申请(专利权)人: 上海复享仪器设备有限公司
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 上海东亚专利商标代理有限公司 31208 代理人: 董梅
地址: 200433 上海市杨*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种显微角分辨光谱测量装置,利用傅立叶变换器件,至少包括一个带有照明系统的显微镜、一根光纤,一个精密平移针孔和一个光谱仪,角分辨光谱测量由下述部件实现:将所述的显微镜的物镜当作一种傅里叶变换器件,形成光的角度和焦平面上空间位置的对应关系,光谱仪通过光纤连接至物镜焦平面上的针孔处,通过移动针孔的位置,获得不同角度的光谱信息;采用共焦照明系统对样品进行照明,或者,在图像平面上利用图像针孔进行空间滤波,或者,采用共焦照明系统和在图像平面上利用图像针孔进行空间滤波,获得样品上微米或纳米尺度区域的光谱信息。本发明可应用于微纳光学领域如光子晶体、薄膜材料、LED等的显微角分辨光谱检测。
搜索关键词: 一种 显微 分辨 光谱 测量 装置
【主权项】:
一种显微角分辨光谱测量装置,利用傅立叶变换器件,至少包括一个带有照明系统的显微镜(1)、一根光纤(2),一个精密平移针孔(3)和一个光谱仪(4),其特征在于:角分辨光谱测量由下述部件实现:将所述的显微镜的物镜(10)当作一种傅里叶变换器件,将样品(9)表面发出的不同角度的光成像到物镜后端的第一焦平面(11)的不同位置处,形成光角度和焦平面上空间位置的对应关系,通过消色差的成像透镜组(13)将第一焦平面(11)成像至远离物镜的第二焦平面(14)处,在第二焦平面(14)上加载一个精密平移针孔(3),光谱仪(4)通过光纤(2)连接至针孔处,通过移动针孔的位置,获得不同角度的光谱信息;显微光谱测量通过以下部件实现:采用共焦照明系统(5)对样品(9)进行照明以获得显微光谱;或者,在与通过物镜(10)、成像透镜组(13)成像形成的光学共轭面为显微镜的物镜图像平面二(16)上利用图像针孔(17)进行空间滤波以获得显微光谱;或者,采用共焦照明系统(5)和在图像平面二(16)上利用图像针孔进行空间滤波获得显微光谱。
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