[发明专利]自动测试设备的量测装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310122280.9 申请日: 2013-04-03
公开(公告)号: CN104101789B 公开(公告)日: 2017-04-05
发明(设计)人: 张友青;林士闻 申请(专利权)人: 致茂电子(苏州)有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司11019 代理人: 寿宁,张华辉
地址: 215011 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明关于一种自动测试设备的量测装置及方法,其中量测装置包含多个接脚参数量测单元,每一接脚参数量测单元用以量测一待测接脚,以产生一量测讯号;一模拟数字转换器,用以将量测讯号转换为一读值讯号;以及一控制单元,电性连接于模拟数字转换器,用以选择该多个接脚参数量测单元之一,并控制模拟数字转换器进行转换以接收读值讯号。如此,本发明可快速量测多个待测接脚,并进而达到缩短测试时间的目的。
搜索关键词: 自动 测试 设备 装置 方法
【主权项】:
一种自动测试设备的量测装置,其特征在于,其包含:多个接脚参数量测单元,每一接脚参数量测单元用以量测一待测接脚,以产生一量测讯号;一模拟数字转换器,用以将该量测讯号转换为一读值讯号;以及一控制单元,电性连接于该模拟数字转换器,用以选择该多个接脚参数量测单元之一,并控制该模拟数字转换器进行转换以接收该读值讯号;其中该控制单元包含:一查表单元,用以储存多个选择参数,该多个选择参数对应该多个接脚参数量测单元;一选择控制单元,电性连接于该查表单元,用以依据该多个选择参数产生一选择讯号用以选择该多个接脚参数量测单元之一;一校正记忆电路,电性连接于该查表单元,用以储存多个增益参数与多个补偿参数,该多个增益参数与该多个补偿参数对应该多个选择参数,该查表单元依据一读写讯号产生一读取地址,该读取地址对应所选择的该接脚参数量测单元,该校正记忆电路依据该读取地址输出该增益参数与该补偿参数;以及一校正电路,电性连接于该校正记忆电路与该模拟数字转换器,并使用该校正记忆电路输出的该增益参数与该补偿参数校正该读值讯号。
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