[发明专利]行程量检测装置有效

专利信息
申请号: 201310122660.2 申请日: 2013-04-10
公开(公告)号: CN103376048A 公开(公告)日: 2013-10-30
发明(设计)人: 水谷彰利;本多仁美;河野祯之 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: G01B7/14 分类号: G01B7/14
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 蔡胜利
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种行程量检测装置,包括磁轭(11、12、13、14、15)、磁通量产生部(20)、和磁性检测部。磁轭(11、12、13、14、15)具有向其外侧突出的突出部(115、125、135、145、155)。磁通量产生部(20)设置在磁轭(11、12、13、14、15)中。磁性检测部设置在磁通量产生部(20)和突出部(115、125、135、145、155)之间。磁性检测部设置在相对于磁通量产生部(20)的固定位置。磁性检测部输出与通过磁轭(11、12、13、14、15)相对于磁性检测部的相对移动所产生的磁通密度相对应的信号。
搜索关键词: 行程 检测 装置
【主权项】:
一种行程量检测装置,用于检测相对于保持部(80)在假想直线(Lx)上移动的受测对象(61)的位置,所述行程量检测装置包括:磁轭(11、12、13、14、15),其接附到所述受测对象(61)和所述保持部件(80)中的一个,所述磁轭(11、12、13、14、15)由磁性材料制造为管形,所述磁轭(11、12、13、14、15)具有突出部(115、125、135、14、155),其沿着垂直于假想直线(Lx)的方向向所述磁轭(11、12、13、14、15)的外侧突出,所述突出部(115、125、135、14、155)具有顶部(116、126、136、146、156),沿垂直于所述假想直线(Lx)的方向到所述假想直线(Lx)的距离在所述顶部(116、126、136、146、156)处最大;磁通量产生部(20),其接附到所述受测对象(61)和所述保持部件(80)中的另一个,所述磁通量产生部(20)位于所述磁轭(11、12、13、14、15)中;以及磁性检测部,其设置在所述磁通量产生部(20)和所述突出部(115、125、135、145、155)之间,所述磁性检测部设置在相对于所述磁通量产生部(20)的固定位置,所述磁性检测部的磁感方向垂直于穿过所述磁通量产生部(20)的磁通量的方向,所述磁性检测部输出与通过所述磁轭(11、12、13、14、15)相对于所述磁性检测部的相对移动所产生的磁通密度相对应的信号。
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