[发明专利]一种光伏阵列I-V特性测试装置及其测试方法无效

专利信息
申请号: 201310124034.7 申请日: 2013-04-11
公开(公告)号: CN103235250A 公开(公告)日: 2013-08-07
发明(设计)人: 张健;杜燕;赖纪东;刘宁;苏建徽;张国荣 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 安徽汇朴律师事务所 34116 代理人: 方荣肖
地址: 230009 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种光伏阵列I-V特性测试装置及其测试方法。该测试装置用于测量待测光伏阵列的I-V特性,其包括控制电路、驱动电路、显示电路。驱动电路为至少一个场效应功率管,该控制电路用于通过控制至少一个场效应功率管的驱动电压VGS的大小来改变待测光伏阵列的输出电流大小,以模拟待测光伏阵列的可变负载,同时还用于在不同负载下采样待测光伏阵列的电压值和电流值。该显示电路显示待测光伏阵列在不同负载下的电压值和电流值,并由此描绘出该待测光伏阵列的I-V曲线。本发明的优点在于:仅采用场效应功率管(MOSFET)作为控制电路的功率开关,因而体积小、重量轻、成本低且可靠性高。本发明还公开了该测试装置的测试方法。
搜索关键词: 一种 阵列 特性 测试 装置 及其 方法
【主权项】:
一种光伏阵列I‑V特性测试装置,其用于测量待测光伏阵列的I‑V特性,该测试装置包括控制电路、以及均与该控制电路电性连接的驱动电路与显示电路,该驱动电路还电性连接于该待测光伏阵列,其特征在于:该驱动电路为至少一个场效应功率管,该控制电路用于通过控制该至少一个场效应功率管的驱动电压VGS的大小来改变该待测光伏阵列的输出电流大小,以模拟该待测光伏阵列的可变负载,同时还用于在不同负载下采样该待测光伏阵列的电压值和电流值,该显示电路用于显示该待测光伏阵列在不同负载下的该电压值和该电流值,并根据不同负载下的该电压值和该电流值描绘出该待测光伏阵列的I‑V曲线。
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