[发明专利]一种极低温下半导体量子点低噪测量系统有效
申请号: | 201310125176.5 | 申请日: | 2013-04-12 |
公开(公告)号: | CN103235251A | 公开(公告)日: | 2013-08-07 |
发明(设计)人: | 尚汝南;郭国平;李海鸥;曹刚;肖明;郭光灿 | 申请(专利权)人: | 中国科学技术大学 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 成金玉;卢纪 |
地址: | 230026 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 一种极低温下半导体量子点低噪测量系统,包括:热沉部分、铜粉滤波器和PCB板载滤波器;热沉部分由制冷机PT1层线夹热沉、PT2层线夹热沉、Still层线夹热沉、100mK层线夹热沉和MC层线夹热沉构成;测量和控制线进入热沉部分后依次通过制冷机PT1层线夹热沉、制冷机PT2层线夹热沉、制冷机Still层线夹热沉、制冷机100mK层线夹热沉和制冷机MC层线夹热沉后至制冷机混合室冷板,经过制冷机混合室最后一级冷板后焊接在D型接口上,D型接口与铜粉滤波器的D型接口入口相连;测量和控制线再经过铜粉滤波器后,由铜粉滤波器的D型接口出口离开,通过一段测量和控制线后,排针接口进入PCB板载滤波电路,最后测量和控制线连接到量子点测量样品相应的电极上。本发明降低了热噪声和电路噪声。 | ||
搜索关键词: | 一种 低温 半导体 量子 点低噪 测量 系统 | ||
【主权项】:
一种极低温下半导体量子点低噪测量系统,其特征在于包括:测量和控制线(1)、热沉部分、铜粉滤波器(7)和PCB板载滤波器(8);所述热沉部分由稀释制冷机PT1层线夹热沉(2)、稀释制冷机PT2层线夹热沉(3)、稀释制冷机Still层线夹热沉(4)、稀释制冷机100mK层线夹热沉(5)、稀释制冷机MC层线夹热沉(6)五级热沉顺序级联组成;测量和控制线(1)进入热沉部分后依次通过稀释制冷机PT1层线夹热沉(2)、稀释制冷机PT2层线夹热沉(3)、稀释制冷机Still层线夹热沉(4)、稀释制冷机100mK层线夹热沉(5)和稀释制冷机MC层线夹热沉(6)后至稀释制冷机混合室冷板,经过稀释制冷机混合室最后一级冷板后焊接在D型接口上,D型接口与铜粉滤波器(7)的D型接口入口相连;测量和控制线(1)再经过铜粉滤波器(7)后,由铜粉滤波器(7)的D型接口出口离开,测量和控制线(1)的接口进入PCB板载滤波器(8),经过PCB板载滤波器(8)后,测量和控制线(1)连接到半导体量子点相应的电极上。
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