[发明专利]一种极低温下半导体量子点低噪测量系统有效
| 申请号： | 201310125176.5 | 申请日： | 2013-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN103235251A | 公开（公告）日： | 2013-08-07 |
| 发明（设计）人： | 尚汝南;郭国平;李海鸥;曹刚;肖明;郭光灿 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 成金玉;卢纪 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 一种极低温下半导体量子点低噪测量系统，包括：热沉部分、铜粉滤波器和PCB板载滤波器；热沉部分由制冷机PT1层线夹热沉、PT2层线夹热沉、Still层线夹热沉、100mK层线夹热沉和MC层线夹热沉构成；测量和控制线进入热沉部分后依次通过制冷机PT1层线夹热沉、制冷机PT2层线夹热沉、制冷机Still层线夹热沉、制冷机100mK层线夹热沉和制冷机MC层线夹热沉后至制冷机混合室冷板，经过制冷机混合室最后一级冷板后焊接在D型接口上，D型接口与铜粉滤波器的D型接口入口相连；测量和控制线再经过铜粉滤波器后，由铜粉滤波器的D型接口出口离开，通过一段测量和控制线后，排针接口进入PCB板载滤波电路，最后测量和控制线连接到量子点测量样品相应的电极上。本发明降低了热噪声和电路噪声。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 低温 半导体 量子 点低噪 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种极低温下半导体量子点低噪测量系统，其特征在于包括：测量和控制线（1）、热沉部分、铜粉滤波器（7）和PCB板载滤波器（8）；所述热沉部分由稀释制冷机PT1层线夹热沉（2）、稀释制冷机PT2层线夹热沉（3）、稀释制冷机Still层线夹热沉（4）、稀释制冷机100mK层线夹热沉（5）、稀释制冷机MC层线夹热沉（6）五级热沉顺序级联组成；测量和控制线（1）进入热沉部分后依次通过稀释制冷机PT1层线夹热沉（2）、稀释制冷机PT2层线夹热沉（3）、稀释制冷机Still层线夹热沉（4）、稀释制冷机100mK层线夹热沉（5）和稀释制冷机MC层线夹热沉（6）后至稀释制冷机混合室冷板，经过稀释制冷机混合室最后一级冷板后焊接在D型接口上，D型接口与铜粉滤波器（7）的D型接口入口相连；测量和控制线（1）再经过铜粉滤波器（7）后，由铜粉滤波器（7）的D型接口出口离开，测量和控制线（1）的接口进入PCB板载滤波器（8），经过PCB板载滤波器（8）后，测量和控制线（1）连接到半导体量子点相应的电极上。
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