[发明专利]一种电子产品实时可靠性的预测方法

摘要

本发明提供了一种电子产品实时可靠性的预测方法基于贝叶斯方法和伪失效寿命，在更为恰当地估计先验分布中的未知参数和选择实时可靠性公式的基础上计算出当前电子产品实时可靠性。首先运用曲线拟合推出n个伪失效寿命，再选择正态分布来表示n个伪失效寿命数据的分布，接着借助时间序列样本生成法，估计出分布中的未知时变参数均值μj0及方差σj0，得到先验密度函数，然后根据现场数据xj可以更新时变参数并得到时变参数的后验密度函数的均值μcj和方差σcj2，最后利用本发明设计的实时可靠性公式计算当前电子产品的实时可靠性。通过实验验证，本发明电子产品实时可靠性的预测方法对电子产品实时可靠性的预测精度高，能准确地对电子产品的实时可靠性进行预测。

主权项

1.一种电子产品实时可靠性的预测方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）、选取数量为n的同类电子产品（至少10-15个），对每个电子产品从最初运行开始，间隔一定时间t_s提取测试点的信号幅值作为电子产品性能退化的历史数据，得到n组由m个信号幅值组成的历史数据；（2）、分别对每一组历史数据进行曲线拟合，根据各组拟合结果来选择最理想的拟合模型，根据拟合模型来外推电子产品在到达失效阈值d时的伪失效寿命x_i；（3）、计算电子产品的寿命T的方差σ_j²：方差：σj2=1nΣi=1n(xi-1nΣi=1nxi)2]]>电子产品的寿命T的均值μ_j为正态分布，其均值μ_j0及方差σ_j0通过以下步骤得到；3.1）、根据伪失效寿命x_i，得到时间序列样本y_k：yk=Σi=1kxik,]]>其中，k=1,2,…,n3.2）、根据时间序列样本y_k计算出均值μ_j0及方差σ_j0；（4）、计算用现场数据更新历史数据得到的包含后验信息的伪失效寿命T的均值μ_cj和方差4.1）、对于当前电子产品也从最初运行开始，间隔一定时间t_s提取测试点的信号幅值，得到当前电子产品性能退化的由m个信号幅值组成的现场数据；根据拟合模型来外推当前电子产品在到达失效阈值d时的伪失效寿命x_j；4.2）、计算均值μ_cj和方差σ_cj²：μ_cj=μ_jaσ_cj²＝σ_ja²+σ_j²其中，μja=σj02σj02+σj2xj+σj2σj02+σj2μj0]]>σja2=σj02σj2σj02+σj2]]>（5）、计算当前电子产品实时可靠性将均值μ_cj和方差σ_cj²代入可靠性计算公式，得到实时可靠度R(t)：R(t)=1-Φ(t-μcjσcj),]]>其中，Φ(·)为标准正态分布函数。