[发明专利]一种Spindt型阴极阵列的制备方法有效

专利信息
申请号: 201310126234.6 申请日: 2013-04-12
公开(公告)号: CN103205808A 公开(公告)日: 2013-07-17
发明(设计)人: 苏海军;张军;杨新宇;刘林;傅恒志 申请(专利权)人: 西北工业大学
主分类号: C30B29/10 分类号: C30B29/10;C30B11/00;C23F1/24
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 慕安荣
地址: 710072 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种Spindt型阴极阵列的制备方法,制备Si-TaSi2共晶自生复合材料铸锭,并通过Bridgman方法进行定向凝固,得到TaSi2在Si基体上均匀分布的试样棒。采用HNO3/HF腐蚀液,通过刻蚀的方法在试样的表面制备出有TaSi2的Spindt型阴极阵列。得到的TaSi2的Spindt型阴极阵列的长径比为35:1,尖锥曲率半径为18nm。Si基体上TaSi2的均匀性比较好,面密度达到了1.05×106rod/cm2,TaSi2的直径为3μm。与现有技术中长/径比为2:1的阵列相比,其场发射性能有了很大的提高,可应用于场发射显示器件,以及场效应二极管,平板显示器,传感器等器件。
搜索关键词: 一种 spindt 阴极 阵列 制备 方法
【主权项】:
一种Spindt型阴极阵列的制备方法,其特征在于,具体过程是:步骤一,制备Si‑TaSi2共晶自生复合材料试样棒:采用现有技术,制备Si‑TaSi2共晶自生复合材料铸锭,并通过Bridgman方法进行定向凝固,得到TaSi2在Si基体上均匀分布的试样棒;步骤二,配制腐蚀液:所述腐蚀液总量为120ml,由浓度为65%HNO3与浓度为40%HF配制而成;HNO3:HF=5:1~2,所述HNO3与HF的比例为体积比;将称量好的HNO3与HF置于高密度聚乙烯瓶内并混合均匀,得到腐蚀液;腐蚀液的温度为25°C;步骤三,制备TaSi2Spindt型阴极阵列:在试样棒的稳态区沿该试样棒的横截面截取试样;将所述的试样放置在保护套内,并对该试样待刻蚀的表面进行常规金相处理;将放置有试样的保护套置于腐蚀液内,对试样的表面进行腐蚀;腐蚀时间为40~3000s;腐蚀结束后,迅速将试样浸入到去离子水中洗涤10min;得到表面制备有TaSi2的Spindt型阴极阵列的试样。
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