[发明专利]薄膜晶体管及其制备方法有效
申请号: | 201310130609.6 | 申请日: | 2013-04-16 |
公开(公告)号: | CN104112777B | 公开(公告)日: | 2017-12-19 |
发明(设计)人: | 邹渊;李群庆;范守善 | 申请(专利权)人: | 清华大学;鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L29/43 |
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地址: | 100084 北京市海淀区清*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种薄膜晶体管,包括一绝缘层,该绝缘层具有相对的第一表面和第二表面;一栅极设置于所述绝缘层的第一表面;一半导体层、一源极和一漏极设置在所述绝缘层的第二表面,该源极和该漏极相互间隔设置且分别与所述半导体层电接触,其中,所述栅极、所述源极和所述漏极均由一第一单壁碳纳米管层组成,该第一单壁碳纳米管层的薄膜电阻小于等于10kΩ/□,所述半导体层由一第二单壁碳纳米管层组成,该第二单壁碳纳米管层的薄膜电阻大于等于100kΩ/□。本发明还提供所述薄膜晶体管的制备方法。 | ||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种薄膜晶体管,包括:一绝缘层,该绝缘层具有相对的第一表面和第二表面;一栅极设置于所述绝缘层的第一表面;一半导体层、一源极和一漏极设置在所述绝缘层的第二表面,该源极和该漏极相互间隔设置且分别与所述半导体层电接触;其特征在于,所述栅极、所述源极和所述漏极均由一第一单壁碳纳米管层组成,该第一单壁碳纳米管层的薄膜电阻小于等于10kΩ/□;所述半导体层由一第二单壁碳纳米管层组成,该第二单壁碳纳米管层由多个单壁碳纳米管组成,该第二单壁碳纳米管层中的多个单壁碳纳米管的分布密度小于等于1根/平方微米,该第二单壁碳纳米管层的薄膜电阻大于等于100kΩ/□,所述多个单壁碳纳米管不含有官能团;所述半导体层包括一沟道区域,该沟道区域的长度L与宽度W的比值大于1。
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