[发明专利]一种光学材料透过率的测试系统及测试方法在审
| 申请号： | 201310130954.X | 申请日： | 2013-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN104111238A | 公开（公告）日： | 2014-10-22 |
| 发明（设计）人： | 雷牧云 | 申请（专利权）人： | 烁光特晶科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;黄灿 |
| 地址： | 100018 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学材料透过率的测试系统及测试方法。所述测试系统包括：光源，沿第一方向发射光线，获得用于测试的入射光；至少两个被测样品，第一被测样品用于接收入射光，且入射光相对于第一被测样品表面呈一角度，入射光穿透第一被测样品之后获得第一折射光；第二被测样品用于接收第一折射光，且使第一折射光穿透第二被测样品之后获得第二折射光，沿第二方向传输，其中第一方向与所述第二方向位于同一直线上，第一被测样品与第二被测样品的规格相同；探测器，用于接收第二折射光，检测获得第二折射光的光强I。通过放置两块被测样品，入射光经重复折射，可以测得样品在有角度入射时的透过率，解决有角度入射时的透过率测试问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学材料 透过 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种光学材料透过率的测试系统，其特征在于，所述测试系统包括：用于提供透过率测试照射光的光源，所述光源沿第一方向发射光线，获得用于测试的入射光；至少两个被测样品，第一被测样品用于接收所述入射光，且所述入射光相对于所述第一被测样品表面呈一角度，所述入射光穿透所述第一被测样品之后获得第一折射光；第二被测样品用于接收所述第一折射光，且使所述第一折射光穿透所述第二被测样品之后获得第二折射光，沿第二方向传输，其中所述第一方向与所述第二方向位于同一直线上，所述第一被测样品与所述第二被测样品的规格相同；探测器，用于接收所述第二折射光，检测获得所述第二折射光的光强I。
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