[发明专利]一种轴承轴向游隙的测量方法

摘要

一种轴承轴向游隙的测量方法，该测量方法涉及到一套测量装置，所述测量装置包含上外压盘(3)、上内压盘(4)、下内垫盘(5)、下外垫盘(6)以及千分表(7)，上外压盘与下外垫盘之间放置外圈(1)，上内压盘与下内垫盘放置内圈(2)，在上内压盘的压力下内圈相对外圈达到最大轴向位移，此时千分表依靠自身弹力将其测头抵在上内压盘的上端面，从三个千分表的读数盘上分别读出第一测值、第二测值和第三测值，第一测值、第二测值和第三测值的算术平均值就是被测轴承的轴向游隙，该轴向游隙就是最大轴向位移，测量准确度较高，测量方法简便可行，尤其适用于批量被测轴承轴向游隙的测量，测量速度快，测量标准统一。

主权项

一种轴承轴向游隙的测量方法，设定：被测轴承外圈(1)的外径为D1，被测轴承外圈(1)的内径为D2，被测轴承内圈(2)的外径为D3，外圈宽度=内圈宽度；该测量方法涉及到一套测量装置，所述测量装置包含上外压盘(3)、上内压盘(4)、下内垫盘(5)、下外垫盘(6)以及千分表(7)，其特征是： 上外压盘(3)的上端面正中具有凸状内孔且下端面具有下凹环槽，所述凸状内孔的直径设定为d1，所述下凹环槽的深度设定为H1，所述下凹环槽的外径≥所述D1，所述下凹环槽的内径≤所述D2，在上外压盘(3)的上端面对称设置有三个用于安装千分表的安装孔，三个所述安装孔均处于相同直径的同心圆中心线上；上内压盘(4)的上端面正中具有凸圆台阶，所述凸圆台阶的最大直径与所述d1匹配，所述凸圆台阶的最小直径＜所述凸圆台阶的最大直径，上内压盘(4)的外径与所述D3匹配，上内压盘(4)外径处的厚度=所述H1；下外垫盘(6)的下端面正中具有凸状锥孔且上端面具有上凹环槽，所述凸状锥孔的最小直径设定为d2，所述上凹环槽的深度、外径以及内径均分别与所述H1、所述D1以及所述D2相匹配；下内垫盘(5)的外径与上内压盘(4)的外径匹配但下内垫盘(5)的厚度与所述H1形成厚度差，所述厚度差＞被测轴承的许用轴向游隙，在下内垫盘(5)的下端面正中设置有圆凸台，所述圆凸台的直径≤所述d2；先将下外垫盘(6)的下端面平放在测量平台上，然后在下外垫盘(6)的所述上凹环槽内放入下内垫盘(5)，注意下内垫盘(5)的所述圆凸台必须套在所述凸状锥孔内，在下外垫盘(6)和下内垫盘(5)的上端面放置被测轴承，注意被测轴承的外圈(1)不能超出下外垫盘(6)的所述上凹环槽之外；将上内压盘(4)的下端面平放在测量平台上，依靠上外压盘(3)的所述凸状内孔使上内压盘(4)的最大所述凸圆台阶处得到定位，然后在三个所述安装孔处配装并固定三个结构相同的千分表(7)，由于上内压盘(4)外径处的厚度=所述下凹环槽的深度H1，因此上内压盘(4)的上端面与所述下凹环槽的内端面是完全接触的，在此情况下将三个千分表(7)的测头抵在上内压盘(4)的上端面并将三个千分表(7)的读数盘统一调整到零位，将上内压盘(4)、上外压盘(3)以及三个千分表(7)配装在一起的联接结构称其为组测件；将所述组测件移至被测轴承的上方，由于外圈宽度=内圈宽度说明被测轴承在垂直状态时其外圈两端面平行与内圈两端面，且由于上外压盘(3)压在外圈端面并限定外圈(1)不能超出上外压盘(3)的所述下凹环槽之外，因此，虽然被测轴承的内圈(2)在平放时相对外圈(1)产生向下微量轴向位移，此时千分表(7)依靠自身弹力将其测头抵在上内压盘(4)的上端面，从三个千分表(7)的读数盘上分别读出第一测值、第二测值和第三测值，第一测值、第二测值和第三测值的算术平均值就是被测轴承的轴向游隙，该轴向游隙就是上述所述最大轴向位移。