[发明专利]一种单轴气浮台精密测量误差校正方法

摘要

一种单轴气浮台精密测量误差校正方法，涉及测量技术领域。本发明为了解决现有的转角测量误差校正方法存在精度不稳定，补偿效果较差等问题。步骤如下：将气浮台调节平衡并用计算机的读数α_i(i＝1，2，…，17)减去选定的检测角β_i(i＝1，2，…，17)，其结果等于气浮台的转角误差值y_i(i＝1，2，…，17)；根据公式取x_i＝i(i＝1，2…17)进行线性插值校正，分别求出16个线性分段函数，对计算机显示的光栅角度进行校正；然后测量新的转角误差值z_i(i＝1，2，…，17)，根据公式进行谐波校正，求出谐波校正函数，对计算机显示的光栅角度进行校正，得到最终转角误差值s_i(i＝1，2，…，17)，并判断转角误差值是否大于精度要求，若是，重新进行谐波校正，否则处理最终结果。本发明气浮台精密测量误差校正方法，结构简单、成本低、测角精度高。

主权项

1.一种单轴气浮台精密测量误差校正方法，其特征在于：所述方法的具体实现过程为：步骤一：将气浮台调节平衡；步骤二：用自准直光管和17面棱体(2)测得的光栅(4)角度读数α_i(i＝1，2，…，17)；α_i(i＝1，2，…，17)减去检测角β_i(i＝1，2，…，17)，其结果等于气浮台的转角误差值y_i(i＝1，2，…，17)；即：y_i＝α_i-β_i；β₀为根据具体项目精度选取的初始值；步骤三：根据公式取x_i＝i(i＝1，2…17)分别求出16个线性校正分段函数，对计算机显示的光栅角度进行校正；x表示气浮台校正前的任意转角值，y表示气浮台转角的修正值；步骤四：重复步骤二，利用步骤三求得的校正值测量新的转角误差值z_i(i＝1，2，…，17)；z_i＝(α_i-β_i)+y；步骤五：根据公式求出谐波校正函数，对计算机显示的光栅角度进行校正；其中a_i(i＝0，1，…，8)，b_i(i＝1，2，…，8)为模型参数，ω＝0.01095为四阶光栅谐波系数；步骤六：计算考虑气浮台转角的修正值y和谐波校正函数的最终转角误差值s_i(i＝1，2，…，17)；s_i＝z_i+z；步骤七：判断最终转角误差值s_i(i＝1，2，…，17)是否大于精度要求，若是，返回步骤二，否则执行步骤八；步骤八，得到最终结果，完成单轴气浮台精密测量误差校正。