[发明专利]螺旋测微器有效
申请号: | 201310132816.5 | 申请日: | 2013-04-17 |
公开(公告)号: | CN103376037B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
发明(设计)人: | 辻胜三郎 | 申请(专利权)人: | 株式会社三丰 |
主分类号: | G01B3/18 | 分类号: | G01B3/18 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人: | 张劲松 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种螺旋测微器(1),具备基架(10)、砧座(11)、主轴(20)、编码器(40)、显示部(60),其中,还具备应变计(50),其检测基架的变形量;存储部,其将由应变计检测的每单位变形量的检测值(由编码器检测的主轴的位移量)的变化量作为修正系数而存储;修正部,其根据调零指令时由应变计检测出的调零时变形量与测量时由应变计检测出的测量时变形量之差、及由存储部存储的修正系数对检测值进行修正。 | ||
搜索关键词: | 螺旋 测微器 | ||
【主权项】:
一种螺旋测微器,具备:U字形状的基架;砧座,其固定于所述基架的一端;主轴,其螺合于所述基架的另一端且相对于所述砧座进退;编码器,其检测所述主轴的位移;显示部,其显示对由所述编码器检测的检测值进行了处理后的测量值,其特征在于,还具备:变形量检测部,其检测所述基架的变形量;存储部,其将由所述变形量检测部检测的每单位变形量的所述检测值的变化量作为修正系数而存储;修正系数设定部,所述修正系数设定部在所述主轴以不同的第一测量力和第二测量力抵接于所述砧座或者被测量物的状态下,取入由所述编码器检测的第一检测值及第二检测值和由所述变形量检测部检测的第一变形量及第二变形量,计算出所述第一检测值与所述第二检测值之差除以所述第一变形量与所述第二变形量之差的值,并作为所述修正系数而存储于所述存储部;修正部,其根据调零指令时由所述变形量检测部检测出的调零时变形量与测量时由所述变形量检测部检测出的测量时变形量之差、及由所述存储部存储的修正系数对所述检测值进行修正。
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