[发明专利]一种LED测试结构、测试方法及该结构的制作方法有效
| 申请号： | 201310134445.4 | 申请日： | 2013-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN103236482A | 公开（公告）日： | 2013-08-07 |
| 发明（设计）人： | 时军朋 | 申请（专利权）人： | 厦门市三安光电科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L33/46 | 分类号： | H01L33/46;G01R27/14 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 361009 福建省厦*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开的一种LED测试结构、测试方法及该结构的制作方法，其中该结构包括：基板；接合层，形成于所述基板上；反射层，形成于所述接合层上，具有金属反射结构；p型外延层、有源层、n型外延层依次叠放于所述反射层之上；N电极，位于n型外延层之上；至少两个P电极，与所述金属反射结构形成欧姆接触且与n型外延层和有源层之间绝缘；其中，所述金属反射结构呈条形状，使得当金属发生迁移时电阻变化能够通过电子仪器探测。在两个P电极上加小电流，通过测量电阻的变化就可以探测反射层金属电迁移的情况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 led 测试 结构 方法 制作方法 | ||
【主权项】：
LED测试结构，包括：基板；接合层，形成于所述基板上；反射层，形成于所述接合层上，包含有金属反射结构；p型外延层、有源层、n型外延层依次叠放于所述反射层之上；N电极，位于n型外延层之上；至少两个P电极，与所述金属反射结构形成欧姆接触且与n型外延层和有源层之间绝缘；其中，所述金属反射结构呈条形状，使得当金属发生迁移时电阻变化能够通过电子仪器探测。
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