[发明专利]中子探测器与中子探测方法有效
申请号: | 201310136203.9 | 申请日: | 2013-04-18 |
公开(公告)号: | CN104111471B | 公开(公告)日: | 2017-03-08 |
发明(设计)人: | 孙志嘉;周健荣;陈元柏;王艳凤;杨桂安;许虹;唐彬;杨振 | 申请(专利权)人: | 中国科学院高能物理研究所 |
主分类号: | G01T3/00 | 分类号: | G01T3/00;G01T3/08 |
代理公司: | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)11435 | 代理人: | 孟阿妮 |
地址: | 100049 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种中子探测器与中子探测方法。中子探测器包括用于提供漂移电场的漂移电极、用于对入射的中子进行转换的涂硼气体电子倍增器结构、用于对中子转换后产生的原初电子进行气体放大的气体电子倍增器结构以及用于读出放大后的电子信号的读出电极;漂移电极、涂硼气体电子倍增器结构、气体电子倍增器结构和读出电极互相平行设置且顺次排列;涂硼气体电子倍增器结构采用至少一个级联的第一气体电子倍增器膜构成,且第一气体电子倍增器膜的至少一面涂有硼层。本发明的中子探测器,能够大大提高中子探测效率且计数率高,时间分辨率好,可实现更高量级的时间分辨,同时该中子探测器兼具气体探测器的优点γ抑制能力高、成本低和可大面积制作。 | ||
搜索关键词: | 中子 探测器 探测 方法 | ||
【主权项】:
一种中子探测器,其特征在于,包括:用于提供漂移电场的漂移电极、用于对入射的中子进行转换的涂硼气体电子倍增器结构、用于对所述中子转换后产生的原初电子进行气体放大的气体电子倍增器结构以及用于读出放大后的电子信号的读出电极;所述漂移电极、所述涂硼气体电子倍增器结构、所述气体电子倍增器结构和所述读出电极互相平行设置,且顺次排列;所述涂硼气体电子倍增器结构采用至少一个级联的第一气体电子倍增器膜构成,且所述第一气体电子倍增器膜的至少一面涂有硼层;所述气体电子倍增器结构包括第二气体电子倍增器膜;所述中子探测器包括两个所述漂移电极、两个所述涂硼气体电子倍增器结构和两个气体电子倍增器结构;两个所述漂移电极对称分布于所述读出电极两侧,两个所述涂硼气体电子倍增器结构也对称分布于所述读出电极两侧,两个所述气体电子倍增器结构对称分布于所述读出电极两侧。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院高能物理研究所,未经中国科学院高能物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310136203.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。