[发明专利]一种防止大颗粒杂质进入光学检测腔的装置和方法有效
| 申请号： | 201310137803.7 | 申请日： | 2013-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN103196737A | 公开（公告）日： | 2013-07-10 |
| 发明（设计）人： | 何春雷;李金钟;王桐;高建辉 | 申请（专利权）人： | 青岛众瑞智能仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/34 | 分类号： | G01N1/34;G01N15/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 266000 山东省青岛市崂山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种防止大颗粒杂质进入光学检测腔的装置和方法，该装置安装于光学检测腔的前端，其包括激光光源发生装置、散射腔、大颗粒收集装置、散射光检测装置以及主光束吸收装置，所述激光光源发生装置和主光束吸收装置分别安装于散射腔的两端，所述大颗粒收集装置和散射光检测装置安装于散射腔的一侧，且所述大颗粒收集装置位于所述激光光源发生装置一端。本发明一方面大大提高光学检测腔信号的准确性，提高信噪比进而提高检测精度，另一方面避免光学检测腔受到污染，延长光学检测腔的使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 防止 颗粒 杂质 进入 光学 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种防止大颗粒杂质进入光学检测腔的装置，其安装于光学检测腔的前端，其特征在于：该光学检测装置包括大颗粒收集装置、散射腔、激光光源发生装置、主光束吸收装置，以及散射光检测装置，所述激光光源发生装置和主光束吸收装置分别安装于散射腔的两端，所述大颗粒收集装置和散射光检测装置安装于散射腔的一侧，且所述大颗粒收集装置位于所述激光光源发生装置一端。
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