[发明专利]半导体器件及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201310142037.3 申请日: 2013-04-23
公开(公告)号: CN103681607B 公开(公告)日: 2019-01-18
发明(设计)人: 沈一权;俊谟具;P.C.马里穆图;林耀剑;林诗轩 申请(专利权)人: 新科金朋有限公司
主分类号: H01L23/528 分类号: H01L23/528;H01L21/60
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 马丽娜;刘春元
地址: 新加坡*** 国省代码: 新加坡;SG
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摘要: 半导体器件及其制作方法。一种半导体器件,具有包括基底和从基底延伸的多个导电柱的衬底。该衬底可以是晶片形状、面板、或已单体化的形式。导电柱可以具有圆形、矩形、锥形、或中间变窄的形状。半导体管芯通过基底中的开孔被设置在导电柱之间。半导体管芯在导电柱上面延伸或者被设置在导电柱的下面。密封剂沉积在半导体管芯上并且围绕导电柱。基底和密封剂的一部分被去除以电隔离导电柱。在半导体管芯、密封剂、和导电柱上形成互连结构。在半导体管芯、密封剂、和导电柱上形成绝缘层。半导体封装设置在半导体管芯上并电连接到导电柱。
搜索关键词: 半导体器件 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种制作半导体器件的方法,包括:提供包括基底和从基底延伸的多个导电柱的衬底,其中衬底的基底包括通过基底的开孔;在衬底的导电柱位于衬底的基底与载体之间的情况下将衬底安装到所述载体上;在将衬底安装到所述载体上之后,通过基底中的开孔设置半导体管芯;在半导体管芯上和导电柱周围沉积密封剂;以及除去基底以电隔离所述导电柱。
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