[发明专利]一种介质材料电导率测量装置及方法

摘要

本发明涉及一种介质材料电导率测量装置及方法，属于测量领域。所述装置包括真空室、电子加速器、介质材料样品、平板电极、绝缘垫、高压电源、静电计、真空抽气系统、样品台、三维传动机构、接地开关、非接触式电位计；所述方法包括开启真空抽气系统给真空室抽真空；开启电子加速器，模拟空间环境的高能电子辐照介质材料样品表面；开启高压电源给平板电极加高压；利用非接触式电位计监测介质材料样品的表面电位，利用静电计监测介质材料样品的泄漏电流；计算得到介质材料样品的辐射诱导电导率。该试验系统工作稳定，采用一侧接地的平板电极，能够为介质材料样品提供匀强电场，解决了原有测量装置无法模拟介质材料同时受场致效应和辐照效应的影响。

主权项

一种介质材料电导率测量装置，其特征在于：所述装置包括真空室（1）、电子加速器（2）、介质材料样品（3）、平板电极（4）、绝缘垫（5）、高压电源（6）、静电计（7）、真空抽气系统（8）、样品台（9）、三维传动机构（10）、接地开关（11）、非接触式电位计（12）； 其中，在真空室（1）内部，电子加速器（2）安装在真空室（1）顶部；样品台（9）安装在真空室（1）底面上，样品台（9）上设置绝缘垫（5）；介质材料样品（3）放置在绝缘垫（5）上表面，在介质材料样品（3）和绝缘垫（5）之间设有金属背电极；连接介质材料样品（3）金属背电极的导线穿过绝缘垫（5）并从绝缘垫（5）下面引出后，与真空室（1）外的静电计（7）连接后接地； 在介质材料样品（3）左右两侧分别设有一个平板电极（4），其中一个平板电极与真空室（1）外的接地开关（11）连接后接地，以消除平板电极（4）对非接触式电位计（12）的干扰；另一个平板电极与真空室（1）外的高压电源（6）连接； 在真空室（1）内设有三维传动机构（10），三维传动机构（10）上设有非接触式表面电位计探头；所述非接触式表面电位计探头与真空室（1）外的非接触式表面电位计（12）连接后接地； 在真空室外，真空抽气系统（8）与真空室（1）连接。