[发明专利]粉尘摩擦副结构及使用该结构的真空粉尘摩擦磨损试验机有效
| 申请号： | 201310145514.1 | 申请日： | 2013-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN104122200B | 公开（公告）日： | 2016-11-30 |
| 发明（设计）人： | 白羽;田东波;王志浩;郑慧齐;李宇;于强;李蔓;唐光泽;马新欣 | 申请（专利权）人： | 北京卫星环境工程研究所 |
| 主分类号： | G01N19/02 | 分类号： | G01N19/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种粉尘摩擦副结构以及使用于真空环境下的具有该结构的粉尘摩擦磨损试验机。该结构包括上试件、下试件试件内定位环、下试件外定位环、试样台底座等。内定位环依靠内部凹槽内设置的螺钉固定到试样台底座上，外定位环上设置有定位孔，通过试样台底座上对应设置的定位销进行两者的孔销配合连接，下试件为圆环体，固定卡设在内外定位环之间，上试件机械固定到摩擦磨损机的加载轴上，上试件的圆环与下试件的圆环紧密接触，并处于下试件两定位环形成的凹槽中，两圆环接触部分中设置有粉尘。本发明的结构采用环块对磨方式，确保试验过程中粉尘始终保持在两对磨面间，采用该结构的摩擦试验机能使试验机与真空系统相互独立，占用空间少，方便灵活且成本低廉。 | ||
| 搜索关键词： | 粉尘 摩擦 结构 使用 真空 磨损 试验 | ||
【主权项】：
一种粉尘摩擦副结构，包括上试件、试样台底座、内定位环、下试件、外定位环，内定位环依靠内部凹槽内设置的螺钉固定到试样台底座上，外定位环上设置有定位孔，通过试样台底座上对应设置的定位销进行两者的孔销配合连接，下试件为圆环体，固定卡设在内外定位环之间，上试件为带有端盖的圆环体，端盖中心有孔，采用螺钉穿孔直接固定到摩擦磨损机的加载轴上，固定后的上试件的圆环与下试件的圆环紧密接触，并处于内定位环、外定位环之间形成的凹槽中，所述两圆环紧密接触部分之中有预先设置或者通过通道孔渗透其间的粉尘。
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