[发明专利]在扩展的测量场中的CT图像重建有效

专利信息
申请号: 201310145840.2 申请日: 2013-04-24
公开(公告)号: CN103390284A 公开(公告)日: 2013-11-13
发明(设计)人: H.布鲁德;H.舍恩杜布 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G06T11/00 分类号: G06T11/00;A61B6/03
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 谢强
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种从测量数据中对检查对象的图像数据(PIC)中进行重建的方法,其中在计算机断层造影系统的放射源和检查对象之间相对旋转运动的情况下采集所述测量数据。在放射源和探测器之间的有限区域是测量场,关于该测量场可以采集测量数据。在测量数据采集期间,检查对象的部分至少暂时位于测量场外部。从测量数据中对第一图像数据(PIC1)进行重建(eFOV Recon)。借助阈值比较来修正第一图像数据(PIC1)(mask),并且借助形态滤波器来对修正后的第一图像数据(PIC1mask)进行处理(filter),并且从这样处理了的修正后的第一图像数据中计算出投影数据(data)。在使用所述投影数据的情况下对测量数据进行修正,并且从修正后的测量数据(data*)中重建出第二图像数据。
搜索关键词: 扩展 测量 中的 ct 图像 重建
【主权项】:
一种用于从测量数据(p)中对检查对象(O)的图像数据(PIC)进行重建的方法,其中在计算机断层造影系统(C1)的放射源(C2,C4)和检查对象(O)之间相对旋转运动的情况下采集所述测量数据(p)(MEAS),在放射源(C2,C4)和探测器(C3,C5)之间的有限区域是测量场(FOV),关于该测量场能够采集测量数据(p),并且,在测量数据采集期间检查对象(O)的部分至少暂时位于所述测量场(FOV)的外部,从所述测量数据(p)中对第一图像数据(PIC1)进行重建(eFOV Recon),借助阈值比较来修正(mask)第一图像数据(PIC1),借助形态滤波器来对修正后的第一图像数据(PIC1mask)进行处理(filter),并且从这样处理了的修正后的第一图像数据中计算出投影数据(data),在使用所述投影数据的情况下对测量数据(p)进行修正,并且从修正后的测量数据(data*)中重建出第二图像数据(PIC)(Recon)。
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