[发明专利]钻针研磨检测系统、检测方法及钻针定位装置有效
申请号: | 201310146424.4 | 申请日: | 2013-04-24 |
公开(公告)号: | CN104117901B | 公开(公告)日: | 2017-03-01 |
发明(设计)人: | 范忆华 | 申请(专利权)人: | 中原大学;象泉电子科技有限公司 |
主分类号: | B24B37/005 | 分类号: | B24B37/005;B24B37/013 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司11019 | 代理人: | 寿宁,张华辉 |
地址: | 中国台湾桃*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明是有关于一种钻针研磨检测系统、检测方法及钻针定位装置,是以钻针研磨系统与钻针分析控制系统所制作成的研磨检测装置,其对研磨检测辨识度与操作速度可与商业化商品的水平比拟,且仅需使用少量的时间便可检测与加工研磨,因此可大幅降低操作所需耗费人力与繁杂程序。钻针分析控制系统的使用,有助于提升研磨钻针产量,并强化研磨钻针的质量,进而提升钻孔成效。 | ||
搜索关键词: | 研磨 检测 系统 方法 定位 装置 | ||
【主权项】:
一种钻针研磨检测系统,其特征在于钻针研磨检测系统包含:至少一个装载装置,装载装置用来装载至少一个钻针;至少一个第一输送装置,第一输送装置用以输送装载装置提供的钻针;至少一个第一取放搬送装置,第一取放搬送装置用以取放搬送由装载装置装载的钻针;至少一个第一固定装置,第一固定装置用以接收固定与搬运第一取放搬送装置提供的钻针,其中,第一固定装置更包含至少一个具有弹性机构的孔洞,其中,钻针用来置入所述的具有弹性机构的孔洞,借以随第一固定装置的转动到指定任意位置;至少一个第一清洁装置,第一清洁装置用以清洁由第一固定装置上输送至第一清洁装置下方的钻针;至少一个第一定位装置,第一定位装置用以推动在第一固定装置的钻针移至固定位置;至少一个第一检测装置,第一检测装置用影像装置撷取钻针的外观轮廓,然后传送外观轮廓信号;至少一个第一分析装置,第一分析装置用以接收第一检测装置的信号与传送处理后的信号,并且在分析影像数据后判定钻针外观轮廓的位置;至少一个第二取放搬送装置,第二取放搬送装置用以取放搬送由第一固定装置提供的钻针;至少一个第三固定装置,第三固定装置用以接收固定与搬运由第二取放搬送装置搬运来的钻针;至少一个第一研磨装置,第一研磨装置用以研磨在第三固定装置上的钻针;至少一个第二定位装置,第二定位装置用以推动第三固定装置上的钻针进入第一研磨装置的指定任一角度与深度,以及退回指定的任一位置;至少一个第一控制装置,第一控制装置用以接收第一分析装置判定钻针外观轮廓的位置,控制第三固定装置,转动钻针外观轮廓的位置至任一指定位置;至少一个第四取放搬送装置,第四取放搬送装置用以取走第三固定装置上的钻针;至少一个第二固定装置,第二固定装置用以接收固定与搬运由第四取放搬送装置提供的钻针;至少一个第二清洁装置,第二清洁装置是由第二固定装置输送钻针至第二清洁装置下方,以第二清洁装置清洁钻针;至少一个第二检测装置,第二检测装置是由第二固定装置输送钻针至第二检测装置下方,借由第二检测装置撷取钻针外观轮廓,然后传送信号;至少一个第二分析装置,第二分析装置接收第二检测装置传送的信号,并且在分析影像数据后分类合格或不合格;至少一个第六取放搬送装置,第六取放搬送装置用以取走第二固定装置上的钻针;至少一个第二输送装置,第二输送装置用以输送装载装置;至少一个第三输送装置,第三输送装置用以输送装载装置;与至少一个第二控制装置,第二控制装置用来接收第二分析装置传送的合格或不合格信号,并且具有合格信号的钻针搬送至第二输送装置上的装载装置,具有不合格信号的钻针搬送至第三输送装置的装载装置。
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