[发明专利]测量装置和测量方法在审

专利信息
申请号: 201310146610.8 申请日: 2013-04-25
公开(公告)号: CN103376237A 公开(公告)日: 2013-10-30
发明(设计)人: C·鲍尔 申请(专利权)人: 特斯托股份公司
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 沈英莹
地址: 德国伦*** 国省代码: 德国;DE
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种用于检查固态、液态或气态样品中的至少一个组成部分的测量装置和测量方法。在具有测量室(2)的测量装置(1)中,在测量室中借助于具有一个载波频率并用一个调制频率进行调制的电磁波(4)调制到样品上,所提出的是,与所述调制频率相调谐的声学接收器(6)设置在测量室(2)之外并且通过声学输出耦合器(7)连接到测量室(2)上,用于检测由在样品中通过所作用的电磁波(4)产生的声学激励(5)。
搜索关键词: 测量 装置 测量方法
【主权项】:
用于检查固态、液态或气态样品中的至少一个组成部分的测量装置(1),该测量装置具有:用于接收样品的测量室(2);光源(3),该光源用于产生与在测量室(2)中的样品相互作用的电磁波(4),该电磁波具有一个载波频率和一个调制频率,其中所述载波频率与所述至少一个组成部分相调谐;以及声学接收器(6),该声学接收器与所述调制频率相调谐,其特征在于,声学接收器(6)设置在测量室(2)之外,并且在测量室(2)的一个壁(8)中或在该壁上设置声学输出耦合器(9),声学接收器(6)通过该声学输出耦合器声学地耦合或可耦合到位于测量室(2)中的样品。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于特斯托股份公司,未经特斯托股份公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310146610.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top