[发明专利]一种基于质量图导引法和枝切法的干涉相位图解缠方法有效
申请号: | 201310150474.X | 申请日: | 2013-04-26 |
公开(公告)号: | CN103279945A | 公开(公告)日: | 2013-09-04 |
发明(设计)人: | 佟洁;王霞;王萌;路陆;金伟其 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 付雷杰;李爱英 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于质量图导引法和枝切法的干涉相位图解缠方法,首先采用枝切法对干涉相位图进行初步解缠,得到解缠相位图和解缠相位的二值分布图,再基于枝切法中的枝切线分布图和解缠相位的二值分布图找到未解缠区域与解缠区域边界线上的未解缠像素点,根据质量图找出与枝切线上未解缠像素点相邻的已解缠像素点中质量最好的点,将该点作为起始参考点用质量图导引法解缠与其相邻的未解缠区域中的像素,即用枝切线上的像素相位使两侧不连通的区域的相位连续起来,然后利用质量图导引法解缠被枝切线隔开的小部分非连通区域,大大降低了要解缠图像的大小,即可降低质量图导引法的计算量,进而减少了运算时间。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 质量 导引 枝切法 干涉 相位 图解 方法 | ||
【主权项】:
一种基于质量图导引法和枝切法的干涉相位图解缠方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一,计算干涉相位图fO(x,y)的残差点,根据残差点设置枝切线,得到枝切线分布图fB(x,y);步骤二,选择枝切法解缠的开始点,采用枝切法解缠干涉相位图,得到解缠的相位图fu(x,y)以及该图对应的二值分布图fb(x,y);步骤三,采用质量图导引法求出干涉相位图的质量图fq(x,y);步骤四,找出所有既位于所述步骤二的枝切线分布图fB(x,y)中枝切线上又位于所述步骤二的二值分布图fb(x,y)中未解缠区域内的未解缠像素点Mi;步骤五,根据所述步骤二的二值分布图fb(x,y)和步骤四中得到的未解缠像素点Mi,找到与每一个未解缠像素点Mi相邻的已解缠像素点,将所有未解缠像素点的相邻的已解缠像素点组成相邻像素点集合;所述相邻的已解缠像素点为该未解缠像素点所在未解缠区域外,且与该未解缠像素点在水平或在竖直方向上相邻的像素点;步骤六,利用步骤三得到的质量图fq(x,y)找出相邻像素点集合中质量最小的点Mq,将该点作为参考点,该点的相位值为参考相位值;步骤七,以参考点Mq为中心,利用质量图导引法解缠与该点相邻的未解缠的区域中的像素点的相位,在解缠过程中更新解缠的相位图fu(x,y),得到更新后解缠的相位图fu′(x,y),然后求解该更新后解缠的相位图fu′(x,y)对应的二值分布图fb′(x,y),用该二值分布图fb′(x,y)更新原来的二值分布图fb(x,y),即:fb(x,y)=fb′(x,y);步骤八,对步骤七的二值分布图fb(x,y)的像素值进行求和运算,并判断和值 是否为0:如果和值不为0,执行步骤四至步骤八;如果和值为0,结束干涉相位解缠过程,执行步骤九;步骤九、输出步骤七的更新后解缠的相位图fu′(x,y)。
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