[发明专利]远距离量测裂缝的方法及其装置有效
申请号: | 201310151708.2 | 申请日: | 2013-04-18 |
公开(公告)号: | CN103808271A | 公开(公告)日: | 2014-05-21 |
发明(设计)人: | 张文镒;林圣峰;李隆正;萧宏达;陈守义;宋裕祺;廖泰杉;陈志彦 | 申请(专利权)人: | 张文镒;林圣峰;李隆正;萧宏达;陈守义;宋裕祺;廖泰杉;陈志彦 |
主分类号: | G01B11/03 | 分类号: | G01B11/03 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提出一种远距离量测裂缝的方法及其装置,其先利用多点且已知形状的雷射光点投射到远距离墙面的裂缝旁,利用几何计算以获得各雷射光点之间在墙面上的相对坐标与实际距离,此实际距离可作为裂缝的参考长度;然后利用照相机在于远处同时拍摄裂缝与雷射光点影像,接着利用影像辨识技术将拍摄图像中的裂缝相关参数计算出来;使用者完全不需要到靠近裂缝的所在位置做近距离量测或是于其旁边放置参考对象即可获得裂缝参数,具有安全性与便利性。 | ||
搜索关键词: | 远距离 裂缝 方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
一种远距离量测裂缝的方法,其特征在于,其步骤包含:移动一雷射光点投射器,使该雷射光点投射器与一墙面的法线方向平行;移动该雷射光点投射器一水平角度以及一垂直角度,使该雷射光点投射器对准至一投射点,该投射点位于该墙面的一裂缝的一侧;投射一雷射图形至该投射点;拍摄该投射点以及该裂缝,取得一变形图像;以及还原该变形图像为一正交影像,取得该裂缝的一参数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于张文镒;林圣峰;李隆正;萧宏达;陈守义;宋裕祺;廖泰杉;陈志彦,未经张文镒;林圣峰;李隆正;萧宏达;陈守义;宋裕祺;廖泰杉;陈志彦许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310151708.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光学经纬仪微调脚架
- 下一篇:谷粒粒形参数的高通量检测方法