[发明专利]一种测试器和基于FPGA的测试器

摘要

本发明公开了一种测试器和基于FPGA的测试器，测试器用于对电子元件性能进行测试，对被测元件的输入输出线路的电平值、只量化调整到各种被测元件所要求的相应电平范围中的一个电平点或几个电平点；通过减少电平值被量化调整的电平点数目来简化测试器中的测试电路。测试器包括与被测元件连接的FPGA、用于直接驱动被测元件同时直接接受被测元件的输出信号，并对所述输出信号进行处理。本发明通过FPGA直接驱动被测元件，接收被测元件的输出信号并对输出信号进行处理，使FPGA作为一种可程控延迟线及测试针电子驱动线路，具有测试针电子线路的功能，大大缩小延迟线的物理尺寸，实现测试针电子线路微型化，提高了性能同时减小生产成本。

主权项

1.一种测试器，用于对电子元件性能进行测试，其特征在于，包括：与被测元件连接的FPGA、用于直接驱动被测元件同时直接接收被测元件的输出信号，并对所述输出信号进行处理；所述测试器用于测试被测元件的输入输出线路的电平值、只量化地调整到各种被测元件所要求的相应电平范围中的一个电平点或几个电平点；所述FPGA 中包括一可调延时模块；所述可调延时模块用于对测试数据信号进行延时、以及对脉冲波形进行调整后驱动被测元件；所述可调延时模块包括单路延时模块；所述单路延时模块包括单个延时选择电路；所述单个延时选择电路包括延时子电路和选择器，用于进行延时控制；所述延时子电路的结构不同，延时时间也不同；所述单路延时模块包括时钟产生电路；所述时钟产生电路分为两路，每路均包括计数器、译码器、选择器和多个单个延时选择电路。